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      電子探針-定性(點)分析

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      產品型號

      品       牌

      廠商性質其他

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      聯(lián)系方式:陳紅芳查看聯(lián)系方式

      更新時間:2022-10-07 09:44:27瀏覽次數(shù):260次

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      經營模式:其他

      商鋪產品:3條

      所在地區(qū):

      聯(lián)系人:陳紅芳

      產品簡介

      測試項目:電子探針測試對象:巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期:5-10個工作日,可提供樣品測試加急服務

      詳細介紹

      測試項目:電子探針
      測試對象:巖石礦物鑲嵌靶、探針片
      測試周期:5-10個工作日,可提供樣品測試加急服務。
      送樣要求:1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑,避免影響數(shù)據(jù)質量;2、提前將測試點位用半圓圈起,并將各點位直線連接以便測試時快速定位,具體請咨詢相關技術人員。
      完成標準:儀器狀態(tài)良好,監(jiān)控標樣測試值在允許誤差范圍內。
      方法描述:

      24.1 EPMA方法說明

      儀器型號為日本電子(JEOL)JXA8230
      硅酸鹽測試條件為:
      電流:2*10-8A、電壓:15kV
      束斑:常規(guī)元素spot(≈1μm)、揮發(fā)性元素3μm,礦物顆粒不小于3um
      采樣時間:peak 10s、back5s、peak 30s、back15s(<1000ppm)
      硫化物測試條件為:
      電流:5*10-8A、電壓:15kV
      束斑:spot(≈1μm)
      采樣時間:peak 10s、back5s 、peak 30s、back15s(<1000ppm)
      硅酸鹽礦物各元素含量校正標樣均為天然礦物,部分金屬及硫化物元素含量校正標樣為純物質:Au、Ag、Co、V,其余為天然礦物標樣。
      數(shù)據(jù)校正采用日本電子(JEOL)的ZAF校正方法進行修正

      關鍵詞:電子探針
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