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      行業(yè)產(chǎn)品

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      孚光精儀公司


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      熒光壽命光譜儀

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      參  考  價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準

      產(chǎn)品型號FPSTA-S-FL

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地

      聯(lián)系方式:陳小姐查看聯(lián)系方式

      更新時間:2023-01-04 11:23:44瀏覽次數(shù):111次

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      經(jīng)營模式:其他

      商鋪產(chǎn)品:100條

      所在地區(qū):

      聯(lián)系人:陳小姐

      產(chǎn)品簡介

      這款熒光壽命測量系統(tǒng)是熒光壽命光譜儀,熒光壽命測量光譜儀,采用時間相關(guān)單光子計數(shù)TCSPC技術(shù)測量熒光壽命,是可靠的熒光壽命測試系統(tǒng).時間相關(guān)單光子計數(shù)TCSPC已經(jīng)開發(fā)成功超過25年,被廣泛認為是的熒光壽命測量技術(shù),提供熒光衰減測試所需的超快時間分辨率

      詳細介紹

      這款熒光壽命測量系統(tǒng)熒光壽命光譜儀,熒光壽命測量光譜儀,采用時間相關(guān)單光子計數(shù)TCSPC技術(shù)測量熒光壽命,是可靠的熒光壽命測試系統(tǒng).
      時間相關(guān)單光子計數(shù)TCSPC已經(jīng)開發(fā)成功超過25年,被廣泛認為是的熒光壽命測量技術(shù),提供熒光衰減測試所需的超快時間分辨率。
      這款熒光壽命測量系統(tǒng)采用亞納秒和皮秒脈沖二極管泵浦固體激光器DPSSL提供合適的波長,為合適的探測器提供足夠快的響應(yīng)時間,還有現(xiàn)代電子計時設(shè)備來將復(fù)雜的采集技術(shù)融入PCI計算機板。DPSSL的研發(fā)使得現(xiàn)在可以設(shè)計出結(jié)構(gòu)緊密體型小的熒光壽命測量系統(tǒng),用于生物環(huán)境,藥業(yè),化學(xué)技術(shù)半導(dǎo)體的納米技術(shù),*的光學(xué)材料技術(shù)等領(lǐng)域。
      熒光壽命測量系統(tǒng)構(gòu)成
      激光: STA-01SH
      LD 激光驅(qū)動器
      BS: 分束器
      PD: 啟動脈沖的PIN光電二極管
      PSU: 通用多通道電源(PA PMT,USB SMD,PD)
      Att: 衰減器
      USB SMD: 兩軸步進電機控制器 8SMC-USBh-B2-2
      M1:電動翻轉(zhuǎn)透鏡- 8MR174-11+ 5MBM22SP-1
      M2:透鏡@ 5MBM23-05
      L1、L2: 聚焦透鏡 @ XYZ 平移臺
      S@H: 樣品固定裝置 @ XYZ 平移臺
      冷凝器: 檢測了的發(fā)射的消色差冷凝器
      FN: 陷波濾波器(531 nm)
      單色器
      PMT: 單光子探測器
      PA: 前置放大器(PMT)的光電倍增管
      TEC: PMT熱電冷卻器
      HVS: PMT高電壓
      PC 和PCI TCSP–以PC 為基礎(chǔ)的采集系統(tǒng)
      CCD(USB)

      熒光壽命測量系統(tǒng)應(yīng)用
      生物技術(shù)與生物醫(yī)學(xué)科學(xué)
      半導(dǎo)體科學(xué)與技術(shù)
      激光材料與*光學(xué)材料的研究
      環(huán)境保護
      可能的發(fā)展
      FRET技術(shù)
      3D 生命壽命微測圖
      終身板扶手(裝配線多樣本壽命分析)
      熒光壽命測量系統(tǒng)軟件
      熒光(或等離子體發(fā)射)的時間分辨光譜
      空間分辨熒光壽命測量(壽命映射)
      3D顯示數(shù)據(jù)和時間/波長軸剖面繪圖
      發(fā)射衰減動力學(xué)反褶積
      時間分辨的PL和PLE光譜軟件提供實驗采集數(shù)據(jù)的聲音和可視圖。有5個主要的測量制度:
      動力衰減探測器(波長/光子能量)和激勵源(波長/光子能量和強度)的確定參數(shù)
      在設(shè)置了激勵波長(能量)和強度條件下,在探測器波長(能量)里動力衰減掃描
      在設(shè)置了探測器波長(能量)和強度條件下,在激勵波長(能量)里動力衰減掃描
      在設(shè)置了探測器波長(能量)和激勵波長(能量)條件下,在激勵強度里動力衰減掃描
      光子計數(shù)模式下的CW PL / PLE光譜,可以在掃描激勵平均強度的過程中測得。2個窗口實時顯示(RTD)表明動態(tài)積累過程(左窗口)和PL譜積分(PLE, I-dependence)–右窗口。

      使用熒光壽命測量系統(tǒng)測量實例:

      實驗1:測量ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光

      實驗2:ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光和選定光子能量的運動衰減的3D圖

      實驗3:ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光和選定延遲時間頻譜的3D圖
      熒光壽命測量系統(tǒng)規(guī)格
      測量光譜范圍: 200-1050nm
      (300–1750nm需使用PMT和InGaAs光電陰極)
      光譜分辨率: 0.05nm
      可用激發(fā)波長: 1062nm,531nm,354nm,265.5nm
      壽命測量域: 64·10-9–64秒
      掃頻頻率 10~107Hz
      時間分辨率
      無反褶積 1ns
      有反褶積 0.25ns
      檢測到的信號動態(tài)范圍 36bit
      10秒采集時間的信噪比 > 100

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