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更新時(shí)間：2022-10-08 10:12:29瀏覽次數(shù)：268次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 智能制造網(wǎng)特性：1本設(shè)備能連續(xù)自動測試薄膜電容的八個(gè)參數(shù)：低電平開路(C0)、10KHz(D10)直流耐壓（DCTV）、交流耐壓（ACTV）、絕緣電阻（IR）、100KHz損耗（D100）、1KHz損耗（D1）和容量分選（△C），并自動分檔
| 特性： | ||
| 1 本設(shè)備能連續(xù)自動測試薄膜電容的八個(gè)參數(shù)：低電平開路(C0)、10KHz(D10)直流耐壓（DCTV）、交流耐壓（ACTV）、絕緣電阻（IR）、100KHz損耗（D100）、1KHz損耗（D1）和容量分選（△C），并自動分檔。 | ||
| 2 本設(shè)備采用PLC控制，觸摸屏操作，速度采用變頻控制器連續(xù)可調(diào)。 | ||
| 3 本設(shè)備采用進(jìn)口分割器控制、停止測試，采用四端測量的測試方式使測試精度相對提高。 | ||
| 主要技術(shù)指標(biāo)： | | |
| 1.試驗(yàn)檢出RT沒有容量的產(chǎn)品自動除去。 | ||
| 2.SH檢出：測試電壓在DC1.5V時(shí)，阻值小于2KΩ判定為不良及排除 | ||
| 3.低電平開路：C0（TH2817A）10KHZ頻率下，測量其損耗值，超過設(shè)定值為不良及排除 | ||
| 4.AC耐壓測試： | a、6級獨(dú)立AC耐壓測試，在設(shè)定電壓下，超過設(shè)定電流為不良及排除。設(shè)定電壓為0-2KV，電流為0.1mA-1999mA。 | |
| b、此耐壓測試為有產(chǎn)品在端子上，通過SSR控制，有電壓加上，如沒有產(chǎn)品，此端子沒有電壓。 | ||
| 5.直流耐壓測試： | 測試電壓為DC200V-5000V，測試設(shè)定電流為1mA，10mA，如超過設(shè)定值為不良。 | |
| 6.IR絕緣測試： | a、測試電壓為DC50V，100V，250V，500V。 b、測定范圍在1.00MΩ-199.9GΩ，低于設(shè)定值為不良。 | |
| 7.100KH測試（TH2817A）：在100KHZ狀態(tài)下，測試其tgδ值，超過此值為不良 | ||
| 8.1KHZ測試容量損耗（TH2817A）：在1KHZ狀態(tài)下測試C1，C2，D2。 | ||
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