方源儀器 電子電器 線路板五金鎖具等測(cè)試儀器 電解測(cè)厚儀- CMI810``
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森瑪特儀器(北京)有限公司
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更新時(shí)間:2022-12-24 12:01:38瀏覽次數(shù):300次
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合肥科晶 TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀售后服務(wù):1、我司承諾所銷售產(chǎn)品全部為原廠原裝。2、本產(chǎn)品全國聯(lián)保,質(zhì)保期:1年質(zhì)保(消耗品除外);3、質(zhì)保期內(nèi)如有產(chǎn)品質(zhì)量問題,免費(fèi)維修;質(zhì)保期外長(zhǎng)期提供技術(shù)支持,不收維修費(fèi),只酌情收取基本配件費(fèi)及相關(guān)費(fèi)用;4、所有產(chǎn)品售后問題,請(qǐng)直接聯(lián)系我司,我司售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)會(huì)在24h內(nèi)響應(yīng)處理。
合肥科晶 TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀
產(chǎn)品概述:
TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀是一款利用反射光譜測(cè)試薄膜厚度的儀器,可快速精確地測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度而不損傷樣品表面的薄膜,是一款無損測(cè)厚儀,其測(cè)量膜厚范圍為15nm-50um,測(cè)量膜厚范圍廣,尤其適用于超薄薄膜厚度的測(cè)量。儀器所發(fā)出測(cè)試光的波長(zhǎng)范圍為400nm-1100nm,波長(zhǎng)范圍廣,因此,測(cè)試薄膜厚度的范圍廣。TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀測(cè)試系統(tǒng)的理論基礎(chǔ)為鏡面光纖反射探頭,該儀器尺寸小巧可節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間,操作方便,讀數(shù)直觀,方便于在實(shí)驗(yàn)室中擺放和使用。
測(cè)量膜厚范圍:15nm-50um
光譜波長(zhǎng):400 nm - 1100 nm
主要測(cè)量透明或半透明薄膜厚度:
合肥科晶 TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀
特點(diǎn):
精度:0.01nm或0.01%
準(zhǔn)確度:0.2%或1nm
穩(wěn)定性:0.02nm或0.02%
光斑尺寸:標(biāo)準(zhǔn)3mm,可以小至3um
要求樣品大小:大于1mm
分光儀/檢測(cè)器:
光源:
反射探針:
載樣臺(tái):測(cè)量時(shí)用于放置測(cè)量的樣品
通訊接口:USB接口,方便與電腦對(duì)接
TFCompanion軟件:
設(shè)備尺寸:200x250x100mm
重量:4.5kg
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