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      行業(yè)產(chǎn)品

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      廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司


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      日立臺(tái)式電子顯微鏡 電鏡 TM4000/TM4000Plus

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      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

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      更新時(shí)間:2022-10-29 10:45:42瀏覽次數(shù):271次

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      經(jīng)營模式:其他

      商鋪產(chǎn)品:103條

      所在地區(qū):

      產(chǎn)品簡介

      日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。

      詳細(xì)介紹

        日立臺(tái)式電鏡產(chǎn)品介紹

        日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納樣品直徑80mm,厚度50mm。

        TM4000Plus是在TM4000基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000Plus可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實(shí)時(shí)進(jìn)行顯示,獲得最多的樣品信息。可選配附件豐富,擁有諸多附加功能。

        主要參數(shù)

        1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV(均四檔可調(diào))、EDX

        2. 放大倍率:10×~100000×

        3. 觀察模式:導(dǎo)體(TM4000Plus)、標(biāo)準(zhǔn)模式,消除電荷模式

        4. 探測(cè)器:4分割背散射探測(cè)器、低真空二次電子探測(cè)器 (TM4000Plus)


        服務(wù)范圍:

        測(cè)試項(xiàng)目

        Test Item

        服務(wù)范圍

        Scope

        微觀形貌觀察

        根據(jù)客戶要求對(duì)樣品區(qū)域、形貌進(jìn)行觀察與分析,放大倍數(shù)<10,000倍;不能測(cè)試液體及易揮發(fā)物質(zhì)

        元素分析

        測(cè)量范圍/精度: Li3~Cf98

        適用范圍:高聚物、金屬、無機(jī)物、粉末等;

        定性半定量;

        不能測(cè)試液體及易揮發(fā)物質(zhì)

        斷面分析

        1. 針對(duì)斷裂樣品進(jìn)行,使用光學(xué)顯微鏡和掃描電子顯微鏡進(jìn)行觀察

        2. 主要判斷斷裂方式(韌性、脆性)、裂紋源頭、延展方向等

        3. 報(bào)告中包含斷口圖片和分析結(jié)果,但無法判斷斷裂原因

        異物失效分析

        金屬腐蝕產(chǎn)物分析

        金屬鍍層析出物定性分析

        介質(zhì)污染異物類分析

        鍍層厚度及成分定性分析

        針對(duì)部分真空電鍍至0.8μm以下鍍層厚度,進(jìn)行SEM厚度測(cè)試,分辨率可達(dá)0.01μm;及多層鍍層線掃描成分分析


        應(yīng)用領(lǐng)域

        生命科學(xué)

        材料科學(xué)

        化學(xué)

        電子制造

        食品工業(yè)


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