等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀（PP-TOFMS）

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：張經(jīng)理查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-11-11 11:13:42瀏覽次數(shù)：228次

聯(lián)系我時，請告知來自智能制造網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  Anton Paar系列
  HORIBA
  EDWARDS系列
  島津_日本系列

暫無信息

上海蒂勒實業(yè)有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：9條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：張經(jīng)理

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

深度剖析——PP-TOFMSPP-TOFMS是HORIBA新研發(fā)的一款專用于固體材料中化學成分深度剖析的質(zhì)譜分析儀

詳細介紹

深度剖析——PP-TOFMS

PP-TOFMS是HORIBA新研發(fā)的一款專用于固體材料中化學成分深度剖析的質(zhì)譜分析儀。

PP-TOFMS主要由剝蝕和激發(fā)樣品材料的輝光放電等離子體源和飛行時間質(zhì)譜儀耦合而成。

高通量和通用性深度剖析技術

高離子密度使得輝光放電等離子體的濺射速率非?？?，此外，由于樣品分析無需超高真空腔，可以極大地縮短預分析時間。通常，一個亞微米厚的薄膜僅需幾分鐘就可獲得分析結果。

PP-TOFMS采用的射頻激發(fā)源適用于任何類型的材料分析，從導體到非導體（如厚玻璃基體上的薄膜）；從無機材料到混合材料。柔性基底材料表面的鍍層通過簡單的樣品預處理后，同樣也可采用PP-TOFMS進行深度剖析。

高動態(tài)范圍

PP-TOFMS是一種融合了質(zhì)譜和高強度等離子體源的所有優(yōu)勢后形成的高靈敏度分析技術。它在納米深度分辨率下信號的動態(tài)范圍可達到106，在深度剖析或基體分析時靈敏度可達到亞ppm級。分析過程中樣品的剝蝕濺射與離子化發(fā)生在輝光放電腔的不同位置，空間上的相互獨立可使基體效應最小化，并且通過內(nèi)部簡單的校準即可直接獲得半定量結果。

全質(zhì)譜覆蓋

飛行時間質(zhì)譜儀的優(yōu)勢是能夠連續(xù)記錄完整的質(zhì)譜數(shù)據(jù)，它每33微秒就可以記錄元素周期表中所有元素的全質(zhì)譜圖，任何元素都可以根據(jù)剝蝕時間/深度進行監(jiān)控。這不僅意味著您不僅可以毫無風險地檢測到任何元素隨深度的變化，而且還可以檢測到那些您意想不到的污染元素。

此外，所有的同位素都可以被檢測，這對于通過同位素標記研究同重元素干擾或是氧化、擴散機理的人員非常重要。

關鍵詞：分析儀質(zhì)譜儀

其他推薦產(chǎn)品更多>>