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弗爾德（上海）儀器設(shè)備有限公司

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布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) Qness 250 / 750 / 3000 M EVO

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電解拋光、腐蝕機(jī)

全自動(dòng)系統(tǒng)

自動(dòng)研磨拋光設(shè)備

手動(dòng)研磨拋光設(shè)備

預(yù)磨機(jī)
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Opal 480

Opal 410

Qpress 50

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弗爾德（上海）儀器設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

“M"版本固定工件支撐和超大測(cè)試臺(tái)區(qū)域使得甚至對(duì)的工件也可以進(jìn)行硬度測(cè)試

詳細(xì)介紹

“M"版本固定工件支撐和超大測(cè)試臺(tái)區(qū)域使得甚至對(duì)的工件也可以進(jìn)行硬度測(cè)試。

測(cè)試頭通過旋轉(zhuǎn)位于機(jī)器前部的手輪來進(jìn)行手動(dòng)移動(dòng)。

測(cè)試頭的軸承部分是為順暢運(yùn)轉(zhuǎn)而特別設(shè)計(jì)的，用最小的力就可以進(jìn)行操作。測(cè)試高度是510 mm。

產(chǎn)品視頻

布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) Qness M EVO 測(cè)試方法 & 力值范圍

Brinell
DIN EN ISO 6506, ASTM E-10

HBW 1/1
HBW 1/2.5
HBW 1/5
HBW 1/10
HBW 1/30
HBW 2.5/6.25
HBW 2.5/15.6
HBW 2.5/31.25
HBW 2.5/62.5
HBW 2.5/187.5
HBW 5/25
HBW 5/62.5
HBW 5/125
HBW 5/250
HBW 10/100
HBW 10/250
HBT (not acc. to standards

Vickers
DIN EN ISO 6507, ASTM E-384, ASTM E92

HV 1
HV 2
HV 3
HV 5
HV 10
HV 20
HV 30
HV 50
HV 100
HVT (not acc. to standards)

Rockwell
DIN EN ISO 6508, ASTM E-18

HRA - HRV
HR15-N/T/W/X/Y
HR30-N/T/W/X/Y
HR45-N/T/W/X/Y

Knoop
DIN EN ISO 6507, ASTM E-92, ASTM E-384

Plastics
DIN EN ISO 2039

49.03 N
132.9 N
357.9 N
961 N

集成的測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)換: DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150

Brinell
DIN EN ISO 6506, ASTM E-10

HBW 1/1
HBW 1/2.5
HBW 1/5
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HBW 5/25
HBW 5/62.5
HBW 5/125
HBW 5/250
HBW 10/100
HBW 10/250
HBW 10/500
HBT (not acc. to standards

Vickers
DIN EN ISO 6507, ASTM E-384, ASTM E92

HV 0.3
HV 0.5
HV 1
HV 2
HV 3
HV 5
HV 10
HV 20
HV 30
HV 50
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HVT (not acc. to standards)

Rockwell
DIN EN ISO 6508, ASTM E-18

HRA - HRV
HR15-N/T/W/X/Y
HR30-N/T/W/X/Y
HR45-N/T/W/X/Y

Knoop
DIN EN ISO 6507, ASTM E-92, ASTM E-384

HK0.3
HK0.5
HK1
HK2

Plastics
DIN EN ISO 2039

49.03 N
132.9 N
357.9 N
961 N

集成的測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)換: DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150

Brinell
DIN EN ISO 6506, ASTM E-10

HBW 1/1
HBW 1/2.5
HBW 1/5
HBW 1/10
HBW 1/30
HBW 2.5/6.25
HBW 2.5/15.6
HBW 2.5/31.25
HBW 2.5/62.5
HBW 2.5/187.5
HBW 5/25
HBW 5/62.5
HBW 5/125
HBW 5/250
HBW 10/100
HBW 10/250
HBW 10/500
HBW 10/1000
HBW 10/1500
HBW 10/3000
HBT (not acc. to standards

Vickers
DIN EN ISO 6507, ASTM E-384, ASTM E92

HV 0.3
HV 0.5
HV 1
HV 2
HV 5
HV 10
HV 20
HV 30
HV 50
HV 100
HVT (not acc. to standards)

Rockwell
DIN EN ISO 6508, ASTM E-18

HRA - HRV
HR 15-N/T/W/X/Y
HR 30-N/T/W/X/Y
HR 45-N/T/W/X/Y

Knoop
DIN EN ISO 6507, ASTM E-92, ASTM E-384

HK0.3
HK0.5
HK1
HK2

Plastics
DIN EN ISO 2039

49.03 N
132.9 N
357.9 N
961 N

集成的測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)換: DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150

大范圍的普遍性的儀器特點(diǎn)

可旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)

的便利性操作，適用于大型，形狀笨重和成型部件和工件。 M和E型選件的工作臺(tái)可以傾斜至5°（包括內(nèi)置夾具），無需額外的工件裝夾！

旋轉(zhuǎn)型壓頭保護(hù)罩

對(duì)于無法使用壓頭保護(hù)罩夾持的樣品，無需耗費(fèi)時(shí)間來更換/拆卸保護(hù)罩。只需要手動(dòng)或者電動(dòng)控制來將保護(hù)罩升起或者放下。此外，這里還能十分簡(jiǎn)單的更換成客戶需要壓頭保護(hù)附件。

擴(kuò)展測(cè)試高度

如果510mm的測(cè)試空間高度對(duì)于特別大型的或者難于夾持的樣品仍不足夠，可以聯(lián)系 QATM來提供更大的機(jī)架。堅(jiān)固的鋼結(jié)構(gòu)機(jī)架可以按客戶定制尺寸生產(chǎn)。

布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) Qness M EVO 在極短的時(shí)間內(nèi)獲得高度精確的結(jié)果

優(yōu)異的成像質(zhì)量

光學(xué)系統(tǒng)已重新開發(fā)。它在QATM的無塵車間內(nèi)建造并受益于公司全面的專業(yè)知識(shí)。所有新的產(chǎn)品系列都共享同一個(gè)通用顯微鏡系統(tǒng)，在可視范圍0.1mm至8mm之間，都能提供的清晰度以及對(duì)比度。新的QATM照明系統(tǒng)可以確保整個(gè)圖片的照明均勻，而且無論選用哪個(gè)的放大倍數(shù)都沒有暗邊。

縮短的周期時(shí)間

新的EVO產(chǎn)品系列擁有更優(yōu)的測(cè)試參數(shù)、更快的Windows 10 系統(tǒng)、更短的序列自動(dòng)對(duì)焦時(shí)間、更快的亮度調(diào)節(jié)與圖像分析、甚至更少的操作噪音——所有這些都有助于在日常硬度測(cè)試中更快地完成測(cè)試循環(huán)。

XLED布氏測(cè)量物鏡

XLED照明模塊革新了布氏壓痕的分析。由于市售物鏡有限，軟材料的布氏壓痕尤其容易受到不精確測(cè)量結(jié)果的影響。相比之下，由于直接和廣泛的照明，XLED鏡頭可確保材料的精確和可重復(fù)測(cè)量，無論其類型與硬度如何。

布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) Qness M EVO 工業(yè)應(yīng)用的無限適用性

以太網(wǎng)工業(yè)攝像頭

具有以太網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸功能的高品質(zhì)CMOS 500萬像素?cái)z像頭定義了當(dāng)前的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。與其他相機(jī)系統(tǒng)不同，在此可以實(shí)現(xiàn)更高的傳輸穩(wěn)定性。此外，電腦和硬度測(cè)試設(shè)備可以遠(yuǎn)距離進(jìn)行遠(yuǎn)程設(shè)置。在控制基礎(chǔ)設(shè)施安裝在外部開關(guān)柜里的制造環(huán)境中，這一切是理想的。

可自由調(diào)節(jié)的操作顯示器

12英寸超平電容式觸摸顯示屏可通過球形和插座式接頭平穩(wěn)地升降和傾斜，符合人體工程學(xué)的優(yōu)化使用。

優(yōu)化的測(cè)試頭設(shè)計(jì)

多種多樣的夾具和裝配工具選擇，能夠滿足各類樣品對(duì)輔助裝夾的需求。可選的透明防撞裝置在預(yù)防設(shè)備上測(cè)試區(qū)域不受來自外部破壞的同時(shí)，還能確保用戶可以不受限制地去觀察測(cè)試空間。

用于硬度計(jì)的Qpix軟件高效操作的新層面

多點(diǎn)觸摸容量 & 全屏模式

現(xiàn)代的多點(diǎn)觸控操作適于簡(jiǎn)單的縮放和便捷的菜單導(dǎo)航。
在一個(gè)屏幕上清楚地概覽所有最重要的功能確保用戶友好，而且最重要的是，保證測(cè)試結(jié)果清楚地按重要性排列。

數(shù)據(jù)管理

多種統(tǒng)計(jì)功能：條形圖，折線圖，柱狀圖
將測(cè)試結(jié)果導(dǎo)出為XML或CSV文件
每個(gè)壓痕的詳細(xì)信息
測(cè)試報(bào)告可以以Excel，Word，PDF導(dǎo)出或直接打印
可以對(duì)序列操作自動(dòng)導(dǎo)出和刪除

Qpix T2軟件

操作簡(jiǎn)便
通過環(huán)形光源進(jìn)行明場(chǎng)或暗場(chǎng)下的全自動(dòng)圖像分析
快速自動(dòng)聚焦
手動(dòng)重新測(cè)量

靈活配置，客戶，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠滿足您的測(cè)試需求

我們?yōu)槟臏y(cè)試需求提供解決方案-從工件夾持固定，擴(kuò)展測(cè)試區(qū)域，以及從自動(dòng)化到軟件適應(yīng)性。

工件夾持固定

手動(dòng)XY載物臺(tái)

擴(kuò)展的測(cè)試區(qū)域

暗場(chǎng)照明（可選）

適用于軟材料的環(huán)形光源（可選）

布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) Qness M EVO 技術(shù)參數(shù)

支持的測(cè)試方法	布氏，維氏，洛氏，努氏，塑料測(cè)試
測(cè)試力范圍	Qness 250 M EVO: 1 - 250 kg (9.81 - 2450 N) Qness 750 M EVO: 0.3 – 750 kg (2.94 – 7358 N) Qness 3000 M EVO: 0.3 - 3000 kg (2.94 - 29430 N)
高度調(diào)節(jié)	手動(dòng)/手輪
測(cè)試高度/喉深	510 mm / 320 mm
測(cè)砧	584 x 450 mm
允許工件重量	無限制
主機(jī)重量	490 kg
測(cè)試序列	全自動(dòng)/電子力控制
相機(jī)系統(tǒng)/圖像傳輸	5百萬像素 Ethernet 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)/可達(dá)270FPS
轉(zhuǎn)塔	2位 (標(biāo)準(zhǔn))或8位 (轉(zhuǎn)塔)
軟件	Qpix T2 (可選: Qpix CONTROL 2 M)
操作系統(tǒng)/硬盤	Windows 10 IoT / 128 GB SSD
數(shù)據(jù)界面	1x USB (前部) 4x USB, 2x RJ45 (Ethernet), 1x Disp...
物鏡	XLED 1, XLED 2, XLED 5, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
視場(chǎng)（取決于選擇的工具）	0.113x 0.084 mm (100x) up to 7.98 x 5.97 mm (XLED 1)
顯示	12“電容觸屏
電源供應(yīng)	230~1/N/PE, 110~1/N/PE
功耗	~ 480 W
附加選項(xiàng)	設(shè)計(jì)底座，防沖撞保護(hù)，交叉激光，測(cè)砧，V型夾具，數(shù)據(jù)連接，二維碼/條形碼閱讀器等。

Feel free to request a non-binding offer 現(xiàn)在配置并提交詢價(jià)

關(guān)鍵詞：顯微鏡工業(yè)攝像頭數(shù)據(jù)傳輸顯示器操作系統(tǒng)

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優(yōu)異的成像質(zhì)量

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XLED布氏測(cè)量物鏡

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以太網(wǎng)工業(yè)攝像頭

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優(yōu)化的測(cè)試頭設(shè)計(jì)

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