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      蘇州優(yōu)儀惠測儀器有限公司


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      菲希爾測厚儀臺式XDV-SDD

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      更新時間:2022-10-26 12:04:35瀏覽次數(shù):205次

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      經(jīng)營模式:其他

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      產(chǎn)品簡介

      菲希爾測厚儀臺式XDV-SDD

      詳細介紹

      XDV-SDD

      XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能較強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm2的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外,儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測量任務建立優(yōu)化的激發(fā)條件。


      特點:

      ·         配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器(SDD),能高精度地測量較薄的鍍層

      ·         耐用的設計結構,能以出色的長期穩(wěn)定性用于連續(xù)測量

      ·         可編程XY平臺和Z軸,用于自動化連續(xù)測量

      ·         擁有實時的視頻顯示和輔助激光點,使得樣品定位變得快速而簡便

      應用:

      鍍層厚度測量

      ·         測量薄鍍層,如電子和半導體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1umAuPd鍍層

      ·         測量汽車制造業(yè)中的硬質涂層

      ·         光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測量

      材料分析

      ·         電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(如重金屬)進行鑒別

      ·         分析黃金和其他貴金屬及其合金

      ·         測定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量


      關鍵詞:探測器
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