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蘇州優(yōu)儀惠測(cè)儀器有限公司
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更新時(shí)間:2022-10-26 11:58:53瀏覽次數(shù):259次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 智能制造網(wǎng)菲希爾測(cè)厚儀臺(tái)式XDL 系列
XDL / XDLM / XDAL
憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,XDL® 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。
· X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測(cè)量任務(wù)
· 由于測(cè)量距離可以調(diào)節(jié)(較大可達(dá) 80 mm),適用于測(cè)試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
· 通過(guò)可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸(可選)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試
· 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測(cè)器,非常適用于測(cè)量較薄鍍層(XDAL 設(shè)備)
· 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量
· 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
· 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
· 鉻鍍層,如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
· 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測(cè)量
· 電鍍槽液分析
· 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析
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