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電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱

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更新時間：2023-03-24 07:41:11瀏覽次數(shù)：166次

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東莞市勤卓環(huán)境測試設備有限公司

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產(chǎn)品簡介

電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱適用于：電路板,PCB板，電子元器件，半導體芯片等產(chǎn)品模擬，高溫，低溫，濕熱環(huán)境下可靠性測試性能指標.

詳細介紹

一.電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱詳細參數(shù)：

1.內(nèi)腔尺寸	40050800mm (寬×高×深)
2.外形尺寸	85019051600mm(寬×高×深)
3.工作形式	低溫、高溫、濕熱按程序自動交變。
4.溫度范圍	-40~+150℃
5.濕度范圍	20~98%
6.降溫速率	1~1.2℃ / min(空載下非線性)
7.升溫速率	2--3 ℃ / min (空載下非線性)
8.溫度控制精度	0.01
9.溫度均勻度	±1.5℃
10.溫度偏差	±1.5
11.濕度偏差	±2.5%RH
12.溫度交變范圍	-40℃～+150℃(任意溫度點可設定)
13.試驗條件	可執(zhí)行 3 種試驗條件（高溫-低溫-濕熱）可編程控制，多段設定。
14.噪音	65dB以內(nèi)

二.電路板測試可編程高低溫濕熱老化試驗箱結(jié)構(gòu)：

試驗箱結(jié)構(gòu)
2.1、結(jié)構(gòu)方式	一體式結(jié)構(gòu)。
2.2、材料構(gòu)成	2.2.1 外壁材料：冷軋鋼板靜電雙面噴塑
	2.2.2 內(nèi)壁材料：SUS304 不銹鋼板
	2.2.3 絕熱材料：100mm 玻璃棉保溫層
2.3、結(jié)構(gòu)強度	試驗箱承重能力：≤100Kg（均勻負載）
2.4、大門	全開單翼型箱門一扇，帶門鎖。
2.4、大門	門框兩道硅橡膠密封條,低溫室門框防結(jié)露電熱裝置

2.5、觀察窗	門上有 1 個多層觀察窗，低溫室門上觀察窗帶鍍膜加熱以防止其冷凝和結(jié)霜
2.6、冷凝出水孔	具有工作室冷凝水和機組凝結(jié)水的引出孔
2.7、引線孔	在設備左側(cè)設有一個φ5cm引線孔，方便測試樣品測試時通電通訊號之用（配硅膠塞和蓋子）
2.8、照明燈	工作室頂部設低壓照明燈，控制屏開關控制