德國EPK MiniTest730F2涂層測厚儀

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更新時間：2023-01-05 09:16:31瀏覽次數(shù)：121次

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北京宏昌信科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

德國EPKMiniTest730F2涂層測厚儀德國EPKMiniTest730F2涂層測厚儀產(chǎn)品描述：德國EPKMiniTest730F2涂層測厚儀新的MINITEST700涂層測厚儀產(chǎn)品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚市場的

詳細介紹

德國EPK MiniTest730F2涂層測厚儀

產(chǎn)品描述：
德國EPK MiniTest730F2涂層測厚儀

新的MINITEST 700涂層測厚儀產(chǎn)品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚市場的。
-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯
詳細了解什么是SIDSP技術
有了新的SIDSP探頭，您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700系列涂層測厚儀可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設置選項
MINITEST 700系列涂層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
德國EPK MiniTest730F2涂層測厚儀

使用簡單方便
MINITEST 700系列涂層測厚儀按照人體工學設計，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列涂層測厚儀可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號都配有超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。

技術參數(shù)：

主機

主機型號	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	最多10,000個	最多10,000個	最多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)、最小值、值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)
校準程序符合國際標準和規(guī)范	ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃~60℃
存放溫度	-20℃~70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

探頭

探頭特性	F1.5，N07，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5			F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍	小工件，薄涂層		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛			厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)
精確度	±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)					±(5μm+0.75%讀值)
重復性	±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)					±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率	0.05μm		0.1μm					1μm
最小曲率半徑(凸)	1.0mm		1.5mm					5mm
最小曲率半徑 (凹，外置探頭)	7.5mm		10mm					25mm
最小曲率半徑 (凹，內(nèi)置探頭)	30mm		30mm					30mm
最小測量面積	Φ5mm		Φ10mm					Φ25mm
最小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下測量速度	每分鐘70個讀數(shù)