VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動(dòng)準(zhǔn)直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠?yàn)槟鷰淼墓庾V分辨率。高精度的線性氣動(dòng)軸承掃描儀以及優(yōu)質(zhì)光學(xué)元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學(xué)臺(tái)，可消除大氣中的水分吸收，從而實(shí)現(xiàn)的靈敏度和穩(wěn)定性，助力進(jìn)行諸多高難度試驗(yàn)，如高分辨率、超快速掃描、步進(jìn)掃描或紫外光譜范圍測量。
得益于VERTEX 80/80v 的光學(xué)設(shè)計(jì)，系統(tǒng)不僅具備的靈活性，還擁有的性能。布魯克光學(xué)的DigiTect™技術(shù)，有助于避免外部信號(hào)干擾，保證了儀器的信噪比，這使得用戶可以輕松重復(fù)地自行更換檢測器。兩個(gè)可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計(jì)和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結(jié)合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達(dá)到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍。
特點(diǎn)
譜區(qū)擴(kuò)展
VERTEX 80/80v可通過配備各種光學(xué)選件，來覆蓋從遠(yuǎn)紅外或太赫茲開始，經(jīng)中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預(yù)準(zhǔn)直光學(xué)元件以及主動(dòng)準(zhǔn)直的UltraScan™干涉儀，使切換和維護(hù)變得十分簡單。
BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。
您可以在真空條件下，通過遠(yuǎn)程控制自動(dòng)更換多達(dá)4種不同類型的分束器?，F(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學(xué)臺(tái)來手動(dòng)切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠(yuǎn)紅外/太赫茲的完整
全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠(yuǎn)紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導(dǎo)體和其它無機(jī)材料研究與開發(fā)應(yīng)用中，由于全新的遠(yuǎn)紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠?qū)⒅屑t外與遠(yuǎn)紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價(jià)值。
光學(xué)分辨率
VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標(biāo)準(zhǔn)配置提供優(yōu)于 0.2cm-1的標(biāo)點(diǎn)光譜分辨率，這足以進(jìn)行大多數(shù)環(huán)境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于*的低溫工作，例如在晶體半導(dǎo)體材料或低壓力下進(jìn)相測量，提供優(yōu)于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺(tái)式 FT-IR 光譜儀實(shí)現(xiàn)的光譜分辨率。可見光譜范圍內(nèi)的高分辨率光譜顯示分辨率（波數(shù) + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300，000：1。
多功能
創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計(jì)使靈活性和拓展能力的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學(xué)臺(tái)，該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠(yuǎn)紅外區(qū)域具有的靈敏度，而不必?fù)?dān)心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來的成果，例如在低至 10-3 單層的納米科學(xué)研究領(lǐng)域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學(xué)臺(tái)的右側(cè)、前側(cè)和左側(cè)布有5個(gè)光束輸出端口，右側(cè)和后側(cè)有兩個(gè)光束輸入端口。因此，它可以同時(shí)進(jìn)行連接：例如，后側(cè)輸入端口的同步輻射光源、右側(cè)輸出口的 PMA50 偏振調(diào)制附件、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計(jì)探測器以及左側(cè)輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。
光譜范圍：可擴(kuò)展光譜范圍50000cm-1～10cm-1
光譜辨率：優(yōu)于0.06 cm-1，連續(xù)可調(diào)
透過率精度：優(yōu)于0.06%T
波數(shù)精度：優(yōu)于±0.005 cm-1
信噪比：優(yōu)于60,000：1
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