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更新時(shí)間:2022-09-11 10:02:07瀏覽次數(shù):271次
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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜 產(chǎn)品描述:TOFSIMS ......
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)??梢詮V泛應(yīng)用于物理,化學(xué),微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結(jié)構(gòu)信息。
技術(shù)參數(shù):
. 并行探測所有離子,包括有機(jī)和無機(jī)分子碎片。
. 無限的質(zhì)量探測范圍(實(shí)際測量中大于1000m/z 原子量單位)。
. *透過率下實(shí)現(xiàn)高的質(zhì)量分辨率。
. 的橫向和縱向空間分辨率(橫向小于100納米,縱向小于1納米)。
. 探測靈敏度可達(dá)ppm或ppb量級。
. 質(zhì)量探測分辨率(M/ΔM) >1000
. 質(zhì)量探測準(zhǔn)確度 ≥20 milli 質(zhì)量單位
. 反射性分析器
. 5 分鐘樣品腔真空度可從大氣環(huán)境達(dá)到真空工作環(huán)境
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