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深圳華南科儀科技有限公司
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所 在 地深圳市
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更新時間:2022-08-25 13:28:03瀏覽次數(shù):304次
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UV-A紫外輻照計(雙通道)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
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紫外輻照計
UV-A
(單通道) | ||
UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。 特點 * 光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正 * 數(shù)字液晶顯示,帶背光 * 手動/自動量程切換 * 數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電) * 低電量提醒 * 自動延時關(guān)機 * 有數(shù)字保持 * 輕觸按鍵操作,蜂鳴提示 主要技術(shù)指標 * 波長范圍及峰值波長:(以下兩種選其一) (1)UV-420探頭:λ:(375~475)nm;λP=420nm (2)UV-365探頭:λ:(320~400)nm;λP=365nm | * 輻照度測量范圍: (0.1~199.9×103) μW/cm2 * 紫外帶外區(qū)雜光: UV420:小于0.02% UV365:小于0.02% * 相對示值誤差:±10%(相對與NIM標準) * 角度響應(yīng)特性:±5%(α ≤10°) * 線性誤差:±1% * 換檔誤差:±1% * 短期不穩(wěn)定性:±1%(開機30min后) * 疲勞特性:衰減量小于2% * 零值誤差:滿量程的±1% * 響應(yīng)時間:1秒 * 使用環(huán)境: 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH * 尺寸和重量:160mm× * 電源: 常規(guī)使用 亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電 整機功耗 <0.1VA |
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