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      行業(yè)產(chǎn)品

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      蘇州洋嘉電子有限公司


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      沃特世SYNAPT XS高分辨率質(zhì)譜儀優(yōu)異分析性能增加峰容量和分析選擇性

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      產(chǎn)品型號

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地蘇州市

      聯(lián)系方式:蘇 工查看聯(lián)系方式

      更新時間:2022-08-02 10:21:38瀏覽次數(shù):285次

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      經(jīng)營模式:其他

      商鋪產(chǎn)品:467條

      所在地區(qū):江蘇蘇州市

      聯(lián)系人:蘇 工

      產(chǎn)品簡介

      沒有研究,就制定的決策,容易是盲目的在科研領(lǐng)域,研究進展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項挑戰(zhàn)

      詳細介紹

      沒有研究,就制定的決策,容易是盲目的

      在科研領(lǐng)域,研究進展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項挑戰(zhàn)。SYNAPT XS質(zhì)譜儀具有更好的靈活性,可提供更大的選擇自由度,能夠打破這些壁壘,支持任何應(yīng)用的科學(xué)創(chuàng)新和技術(shù)成功。
      ?  創(chuàng)新技術(shù)作為基石,提供十分優(yōu)異的分析性能
      ?  SONAR和HDMSE提供一套的工具包,用于解析復(fù)雜混合物
      ?  離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性
      ?  CCS測量可提高化合物鑒定的準確性

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      創(chuàng)新技術(shù)提供更優(yōu)異的分析性能

      憑借沃特世質(zhì)譜“SELECT SERIES"傳承下來的技術(shù)基石,內(nèi)置*的創(chuàng)新技術(shù),確保使用該平臺的科學(xué)家處于質(zhì)譜分析的前沿,同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。


      StepWave XS
      重新設(shè)計的分段四極桿傳輸光學(xué)元件,提升棘手化合物的分析靈敏度,同時進一步提高分析穩(wěn)定性。


      Extended ToF
      針對更復(fù)雜的樣品,提供兼容UPLC的質(zhì)量分辨率、耐受各種基質(zhì)的動態(tài)范圍和定量分析結(jié)果,同時提供優(yōu)異的性能指標。

       

      更大的分析選擇自由度

      為有效解決固有難題,分析人員對各種分析策略的需求不斷增加,因此,SYNAPT XS將高性能與出眾靈活性相結(jié)合。競爭對手的系統(tǒng)大多存在入口選項有限、掃描功能局限性或需要多個平臺等問題。與之相比,只有沃特世能夠提供的高性能LC-MS解決方案,該方案經(jīng)過專門設(shè)計,能夠提供更大的分析選擇自由度以支持科學(xué)研究。

       
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      SONAR和HDMSE提供了一套的工具包,用于解析復(fù)雜混合物

      完整的分析策略需要結(jié)合適當(dāng)?shù)幕パa技術(shù)才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式,分析人員能夠利用互補機制,以優(yōu)秀的方式解析復(fù)雜混合物。兩種類型的采集均提高了分析峰容量,提供“清晰明了"的碎片數(shù)據(jù),但它們基于不同的分子特性。這提供了一種真正的研究工具包,適用于深入解析復(fù)雜混合物。

       

      離子淌度和CCS測量

      傳統(tǒng)質(zhì)譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中,使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù),對分子進行分離。  除離子淌度能提供額外的分離維度、增加峰容量和分析選擇性以外,CCS測量還可提供額外的分子標識。離子CCS的測量結(jié)果有助于確定離子名稱或研究其結(jié)構(gòu)。運用離子淌度技術(shù),顯著提高了科學(xué)家分析復(fù)雜混合物和復(fù)雜分子的范圍和可信度。

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      CID與ETD碎裂功能

      TriWave的雙碰撞室結(jié)構(gòu)可進行碰撞誘導(dǎo)解離(CID)和/或電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)碎裂,且分辨率高、質(zhì)量測定準確,能夠拓展MS/MS檢測能力。  高解析度四極桿包括4 KDa、8 KDa或32 KDa質(zhì)量數(shù)范圍,適用于從小分子到大分子的MS/MS分析

       

      TAP碎裂

      時間校準平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS設(shè)計所的采集模式。它使用戶能夠利用TriWave配置,允許將IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作為兩個單獨的碰撞室運行。得到的CID-IMS-CID儀器操作有助于對組分進行超高可信度的結(jié)構(gòu)表征。TAP碎裂與傳統(tǒng)MSn或MS/MS技術(shù)相比,具備優(yōu)異的碎片離子覆蓋率、靈敏度和準確性,在構(gòu)建完整結(jié)構(gòu)方面有著不容置疑的優(yōu)勢。

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      關(guān)鍵詞:質(zhì)譜儀

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