具體成交價以合同協(xié)議為準
CH-500H環(huán)動聯(lián)科 CH-500H高低溫霍爾效應測試系統(tǒng) 300-773K
￥面議
陜西環(huán)動聯(lián)科電子科技有限公司
免費會員·4年您現(xiàn)在的位置： 陜西環(huán)動聯(lián)科電子科技有限公司>>自動測試系統(tǒng)>>半導體參數測試系統(tǒng)>> CH-200環(huán)動聯(lián)科 CH-200高低溫霍爾效應測試系統(tǒng)
產品介紹
CH-200高低溫霍爾效應測試系統(tǒng)由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、矩陣卡、高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統(tǒng)軟件組成。
用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統(tǒng)是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性的工具。
實驗結果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等等。
