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      目錄:北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司>>體積表面電阻率測定儀>>橡膠體積電阻率測定儀>> 絕緣漆體積電阻率測試儀

      絕緣漆體積電阻率測試儀
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      參考價 55000
      訂貨量 ≥1
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      55000
      ≥1
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 品牌 ZHIDECHUANGXIN
      • 型號
      • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
      • 所在地 北京市
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      聯(lián)系方式:劉偉查看聯(lián)系方式

      更新時間:2023-05-10 23:21:44瀏覽次數(shù):482評價

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      絕緣漆體積電阻率測試儀主要用于測量固體絕緣材料的絕緣電阻、表面電阻/電阻率和體積電阻/電阻率;該儀器具有測量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡單等優(yōu)點(diǎn),儀器的最高量程1017Ω電阻值。

      絕緣漆體積電阻率測試儀采用PLC控制,7寸觸控屏顯示,測試過程全自動,主要用于電工用塑料、層壓制品、薄膜等絕緣材料的表面電阻率、體積電阻率的測量。觸控屏人機(jī)界面,數(shù)顯電阻值,自動計算電阻率。表面電阻和體積電阻的測量可通過屏幕按鈕一鍵切換,測量接線無需轉(zhuǎn)換。測試信號采用三同軸屏蔽線纜輸入,測試精度高。電阻量程檔位自動切換,試驗過程全自動。測試儀器和屏蔽箱一體化,無需外接線。

      主要技術(shù)參數(shù):

      型號/參數(shù)

      ZST-121

      ZST-122

      ZST-212

      *電阻測量(Ω)

      102×1017

      02×1019

      1×1041×1017 Ω

      電流測量(A

      10-162×10-4

      1×1041×1010 Ω  ±5%;1×10101×1013 Ω   ±20%

      額定電壓(V

      100, 250, 500,1000

      10,2550,100,250,500,1000

      10,50,100250,5001000

      顯示

      3 1/2位大屏帶背光數(shù)字顯示

      *測量定時功能

      1-7min自動讀數(shù)鎖定

      *誤操作報警功能

      *防濾波干擾功能

      *電 源

      DC8.512.5V  ( 1號電池8節(jié) ) 或外接電源

      內(nèi)置可充電電池

      220V  10A     50Hz

      外形尺寸(mm

      280×240×105( l×b×h)

      320×290×115( l×b×h)

      410×370×560( l×b×h)

      質(zhì)量(重量)

      3KG

      30KG

      使用環(huán)境

      溫度:0-40℃,相對濕度<80%

      符合標(biāo)準(zhǔn):

      GB/T1410-2006固體絕緣材料體積表面電阻率試驗方法

      GB/T   31838.1.2.3-2019固體絕緣材料介電和電阻特性

      GBT2439-2001硫化橡膠或熱塑性橡膠導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測定

      GBT1692-2008 硫化橡膠絕緣電阻率的測定

      GBT10064-2006 測定固體絕緣材料絕緣電阻的實驗方法、GB/T3048.5電線電纜電性能試驗方法

      絕緣漆體積電阻率測試儀電線/電纜絕緣電阻測試方法比較

      絕緣電阻是反映電線電纜產(chǎn)品絕緣特性的主要指標(biāo),它 反映了線纜產(chǎn)品承受電擊穿或熱擊穿能力的大小,與絕緣的 介質(zhì)損耗以及絕緣材料在工作狀態(tài)下的逐步劣化等均存在 著極為密切的關(guān)系。產(chǎn)品的絕緣電阻主要取決于所選用的 絕緣材料,但工藝水平對絕緣電阻的影響很大,因此測定絕 緣電阻是監(jiān)督材料質(zhì)量和工藝水平的一種方法。測定絕緣 電阻可以發(fā)現(xiàn)工藝的缺陷,同時也是研究絕緣材料的品質(zhì)和 特性,研究絕緣結(jié)構(gòu)以及產(chǎn)品在各種運(yùn)行條件下的使用性能 等各方面的重要手段,對于已投入運(yùn)行的產(chǎn)品絕緣電阻是判 斷產(chǎn)品品質(zhì)變化的重要依據(jù)之一。

      在電線/電纜產(chǎn)品中,線問的絕緣電阻值只有在一定的 范圍內(nèi),才能保證電線/電纜正常的工作。由于各電線/電纜 工作的環(huán)境各不相同,絕緣電阻阻值也不盡相同,因而其測 試方法的選擇也不盡相同,因此對電線/電纜產(chǎn)品的絕緣電 阻的測試方法進(jìn)行分析研究為各種適用范圍的絕緣電阻測 試儀的設(shè)計有一定的參考意義。

      2絕緣電阻測試的方法

      當(dāng)前絕緣電阻測試的方法主要是“加高壓、測漏流"。具 體歸納起來主要有以下幾種:串聯(lián)法測絕緣電阻、并聯(lián)法測 絕緣電阻、電壓比法測絕緣電阻、電橋法測絕緣電阻、充放電 法測絕緣電阻。下面加以詳細(xì)介紹。

      21 串聯(lián)法測絕緣電阻 串聯(lián)法測絕緣電阻,顧名思義,是將絕緣電阻和測量電 阻串聯(lián)的方法來對測量電阻進(jìn)行電壓測試以計算出絕緣電 阻阻值的方法。如下圖l所示

      圖中U0為測試電源電壓,RS為電源內(nèi)阻,RX為絕緣電阻,R1為限流電阻,R2為測量電阻,Ui為待測電壓,RLCL組成低 通濾波輸出。由于R1,U0,R2已知,所以只要求得RXUi即可計算出所要測的絕緣電阻值。Ui可以通過電壓測量得 到,而RS可以通過實驗得方法確定。

      22并聯(lián)法測絕緣電阻

      并聯(lián)法測絕緣電阻原理,如圖2所示:

      638167141745629017764.png

      圖中U0為測試電源電壓,RS為電源內(nèi)阻,RX為絕緣電 阻,R1為限流電阻,R2為測量電阻,Ui為待測電壓,RLCL組成低通濾波輸出。其絕緣電阻值求取公式推導(dǎo)為:

      其中R1R2為已知標(biāo)準(zhǔn)電阻,故只須測得UiRS就可以 求得RX。

      2.3 電壓比較法測絕緣電阻

      電壓比較法原理,如圖3所示:


      圖中符號含義如下:U0:測試電源電壓;UREF.已知的參考電 壓;Ui:待測電壓;Rx:待測的絕緣電阻;R1:高阻值的標(biāo)準(zhǔn)電 阻;R2:可調(diào)精密電阻;R3:已知的阻值較低的標(biāo)準(zhǔn)電阻。

      由圖3可以得到關(guān)系式:


      由于RA、RB、RN的值已知,可知,Rx只和VREF/VVIN有 關(guān),只要求出VREF/VVIN即可求出吃。

      24電橋法測絕緣電阻

      241全橋法測絕緣電阻

      全橋法測絕緣電阻原理如圖4所示,全橋法在原理和 形態(tài)上都和比較法十分雷同,它們不同的地方就是RD的使 用,RD是一個數(shù)控電位計。在比較法中,如果絕緣電阻阻值 過大或過小,則‰就會偏大或偏小,超出AD的測量茸程 或超出AD的分辨率。這種情況下可以采用在AD輸入通 道之前接入程控放大器,fH這種做法對放大器的要求十分嚴(yán) 格,因為如果放大器的性能不好,不但不能提高測量精度,反 而會降低測量精度?!?span>flj在電橋法中采用數(shù)控電阻后,可以通 過調(diào)整數(shù)控電阻的阻值使總是在AD的合適測量范圍內(nèi)進(jìn) 行測量,原理如下:

      其中n為數(shù)控電阻的第n個抽頭,r1為其數(shù)控電阻每一 級電阻的阻值。在編程過程中只要測量出URUD以及推出 n的大小,其他值已知,就可以計算出絕緣電阻的大小。

      242半橋法測絕緣電阻

      由于變電站的輸出母線是懸浮的,因此允許有一側(cè)接地 或者是絕緣電阻同時降低,我們同時需要知道正、負(fù)線線對 地的絕緣電阻。在經(jīng)典的電橋法當(dāng)中,當(dāng)正、負(fù)線對地的絕 緣電阻同時下降時,電橋仍然保持平衡,不能得出各自的絕 緣電阻值,對此,文獻(xiàn)[5]給出了一種比較簡單的電橋法,即 半橋法測絕緣電阻。其原理如圖5所示:

      圖中,XJJ為一繼電器,其中5點(diǎn)和2點(diǎn)為線包接線點(diǎn), 1,6點(diǎn)相通為接入點(diǎn),3點(diǎn)為常開點(diǎn),4點(diǎn)為常閉點(diǎn)。VIN是控 制母線的工作電壓,RX1、RX2分別是正、負(fù)母線對地的絕緣電阻。設(shè)繼電器在常開點(diǎn)時采樣的到電壓UAD的值為UAD1。,,繼電器動作后在常閉點(diǎn)時采樣到的電壓UAD的值為UAD2,根據(jù)圖5中的電路叮列出電路方程如下:

      已知采樣電阻R0、R1,控制母線工作電路VIN也可求出,這樣 只要通過采樣芯片內(nèi)部的12AD轉(zhuǎn)換并計算出UAD1、UAD2的大小就町以直接按照公式求出絕緣電阻RX1RX2正的值。

      25電容充放電法測絕緣電阻

      電容充放電法原理如圖6所示。

      圖中RS為測試電源內(nèi)阻,RX為絕緣電阻,C為充電電 容,Q為沖擊檢流計。將絕緣電阻RX和一電解電容器c串 聯(lián),由于電源內(nèi)阻和絕緣電阻并聯(lián),電源內(nèi)阻遠(yuǎn)小于絕緣電 阻,故可忽略不計。先用電壓為U0的直流電源經(jīng)過絕緣電阻對電容器充電,經(jīng)過適當(dāng)時間t1后,將電容器上所充電量 經(jīng)沖擊榆流計放電。根據(jù)已知的充電時間,電源電壓和所測得的電量即可算出絕緣電阻。當(dāng)開關(guān)合向1時,直流電壓U0開始向未充過電的電容c充電,對于此充電回路,設(shè)任一時 刻電容器c上的電量為Q,電壓為UC,則有:

      所以任一時刻t電容器兩端的UC=CU(1-e(-t/RXC)),經(jīng)過 t1秒后,電容器上所儲電量等于Q,當(dāng)絕緣電阻很大,C為定值,在不太長的充電時間t1內(nèi),Uc<U,充電電流幾乎不, 變,近似值為i=U/Rx,則電容器所儲電量為Qt1成正比,即 Q=U/ Rx t1。所以,被測電阻Rx=U/Q t1Q值可用沖擊檢流計測量,其方法是:將開關(guān)Jk倒向2,讀出沖擊檢流計的第一次最大偏轉(zhuǎn)αm。,則電容器所儲的電量為Q=Cqαm。式中Cq一沖擊 檢流計的電量沖擊常數(shù)。將該式代入Rx的表達(dá)式中,則可求出待測電阻:

      3 絕緣電阻測試方法的比較及適用范圍分析

      串聯(lián)法的特點(diǎn)是原理簡單,可靠實用。Ui隨著Rx的增大而減小,當(dāng)Rx非常大時,Ui會變得非常小,當(dāng)電壓小到一定程度時,電壓測最將變得比較困難,如果為了保證Ui的值 為可測,則Rx會變得非常小,對精密電阻的要求就過高而不能滿足,所以這種種方法只能測得一定上限值的絕緣電阻,具體數(shù)值則由以上參數(shù)共同決定。

      并聯(lián)法不適合測量值較小的絕緣電阻值。由關(guān)系式(2) 可以看出,測試中RS的計算值與RX有很大關(guān)系,所以RS的求取對測試精度十分蕈要,如果RS為一定值,則用實驗的方 法加以修正就町以得到正確的關(guān)系式,但如果RS為一變量 則需要求得它和RX的關(guān)系才能得到正確的關(guān)系式。另外從 電路圖町以看出,當(dāng)RX越小時,Ui越小,到超過測量的合適 范圍時所測絕緣電阻值就會有較大誤差,所以此法不適合測 比較小的絕緣電阻。

      電壓比較法的優(yōu)點(diǎn)是可以不用求得RS,只須求得VREFVIN。即可。但VREFVIN。的值仍受RS影響,如果RS較小, 其影響可以忽略不計。VREF為一個設(shè)定值,所以每次測量時只需測量VIN即可。但Rs對系統(tǒng)的影響比較大超過誤差允許范圍時,就需要每次對VREFVIN都進(jìn)行測量,這樣電壓測量工作量增加了一倍。

      電橋法中,主要的誤差來源為AD轉(zhuǎn)換器帶來的誤差。 當(dāng)絕緣電阻值過大或過小時,則VIN就會偏大或偏小,選用一 般的AD轉(zhuǎn)換器,VIN就可能超出AD的測量量程或超出AD的分辨率,導(dǎo)致較大的誤差。選擇好的AD轉(zhuǎn)換器,則會 導(dǎo)致整個系統(tǒng)成本的上升。在一些對精度要求比較高的測 量場所,同時對成本的考慮相對少的時候,可以選用高精度 的AD轉(zhuǎn)換器,采用電橋法進(jìn)行絕緣電阻測試,可以達(dá)到較 高的精度。

      半橋法測絕緣電阻原理復(fù)雜,但容易實現(xiàn)自動化,并且 可以同時對架窄電線正、負(fù)母線的絕緣電阻進(jìn)行測試,同時 還可以解決正、負(fù)母線絕緣電阻同時降低給測試帶來的問 題,可以廣泛的應(yīng)用于架空電線的絕緣電阻測試當(dāng)中。

      充放電法的優(yōu)點(diǎn)是電源內(nèi)阻對測試影響十分微弱,可以忽略不計。由式(6)可以看出,當(dāng)RS較大時,只要提高測試 電壓u即可,因而充放電法可以測量較大電阻值的絕緣電阻 值。其缺點(diǎn)是抗干擾性比較差,需要采取隔離和屏蔽措施才 能進(jìn)行測鼉,而且若測試點(diǎn)存在電容或存在較大的分布電容 時會導(dǎo)致較大的誤差。

      由以上分析可以得出各種測試方法的特點(diǎn)及優(yōu)缺點(diǎn)如 表1所示。

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