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      目錄:北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司>>介電常數(shù)測試儀>>介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀>> 智能絕緣紙介電常數(shù)測試儀

      智能絕緣紙介電常數(shù)測試儀
      • 智能絕緣紙介電常數(shù)測試儀
      • 智能絕緣紙介電常數(shù)測試儀
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      參考價(jià) 58000
      訂貨量 ≥1
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      58000
      ≥1
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 品牌 ZHIDECHUANGXIN
      • 型號
      • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
      • 所在地 北京市
      屬性

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      更新時(shí)間:2022-12-29 16:05:39瀏覽次數(shù):453評價(jià)

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      智能絕緣紙介電常數(shù)測試儀是表征絕緣材料在交流電場下,介質(zhì)極化程度的一個(gè)參數(shù),它是充滿此絕緣材料的電容器的電容量與以真空為電介質(zhì)時(shí)同樣電極尺寸的電容器的電容量的比值。介質(zhì)損耗角正切是表征該絕緣材料在交流電場下能量損耗的一個(gè)參數(shù),是外施正弦電壓與通過試樣的電流之間的相對的余角正切。測定高分子材料介電常數(shù)和介電損耗角正切實(shí)驗(yàn)方法有:工頻高壓電橋法和變電納法。
      智能絕緣紙介電常數(shù)測試儀實(shí)驗(yàn)原理
            介電常數(shù)是表征絕緣材料在交流電場下,介質(zhì)極化程度的一個(gè)參數(shù),它是充滿此絕緣材料的電容器的電容量與以真空為電介質(zhì)時(shí)同樣電極尺寸的電容器的電容量的比值。介質(zhì)損耗角正切是表征該絕緣材料在交流電場下能量損耗的一個(gè)參數(shù),是外施正弦電壓與通過試樣的電流之間的相對的余角正切。測定高分子材料介電常數(shù)和介電損耗角正切實(shí)驗(yàn)方法有:工頻高壓電橋法和變電納法。
            本實(shí)驗(yàn)采用工頻高壓電橋法。其工作原理為:被測試樣與無損耗標(biāo)準(zhǔn)電容Co是電橋的兩相鄰橋臂,橋臂R3是無感電阻,與它相鄰的臂由電容C4和恒定電阻R4并聯(lián)構(gòu)成。在電阻R4的中點(diǎn)和屏蔽間接有一可調(diào)電容Ca來完成線路的對稱操作。線路的對稱在這里理解為使“臂R3對屏蔽"及“臂R4對屏蔽"的寄生電容固定且相等。由于電阻線圈R3中的金屬線比電阻R4長得多,臂R3的寄生電容也將大于臂R4的寄生電容。附加電容Ca可以增大臂R4的電容泄漏,使其數(shù)值與臂R3的泄漏相等。臂Ca和Co的寄生電容不大,因此不用對他們加以平衡。
             保護(hù)電壓e的作用是消除放大器P處頂點(diǎn)可能存在的泄漏電流,為此e是一個(gè)將橋P處頂點(diǎn)的電位引向地電位的裝置。
      這主類電橋平衡后必然有:Zx·Z4=Zs·Z3 ……(3-45)
      其中 Zx=j(luò) / (ωCx)  
      Zs=j(luò) / (ωCs)  
      Z3=R3  
      Z4=[(1 / R4)+ jωC4]-1
      由平衡條件及tgδ定義可計(jì)算出:tgδ=2πf C4·R4·10-12
      當(dāng)f=50Hz,R4=10000/πΩ時(shí),有tgδ= C4·10-6,即可用C4直接表示tgδ值。根據(jù)式(3-45)計(jì)算可得到:
      C4=C3·(R4 / R3)·[1+(1/ tg2δ)]
      ε=Cs / Co
            本方法適用于測試固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等的相對介電常數(shù)與介質(zhì)損耗角正切以及由它們計(jì)算出來的相關(guān)參數(shù),例如損耗因素。
      對有些絕緣材料如橡膠以及橡膠制品,薄膜等的上述性能實(shí)驗(yàn),可按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或者參考本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。

      實(shí)驗(yàn)試樣
             本次實(shí)驗(yàn)采用多型腔圓片模具注塑成型的高密度聚乙烯圓片試樣.直徑120mm厚度3mm(由材料形狀,電極選二電極,板狀電極)

      實(shí)驗(yàn)設(shè)備
      ZJD-C高低頻介電常數(shù)測試儀 北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司生產(chǎn)
      電極   采用板狀圓形電極

      實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)
      序號Ca0ξ
      152.352.20
      252.671.90
      352.671.64
      序號R3(Ω)tgδt
      1138545.43.32
      2158745.33.30
      3183840.53.30



      智能絕緣紙介電常數(shù)測試儀思考題
      1.實(shí)驗(yàn)要求試樣厚度不大于3mm的原因?答:試樣的厚度如果大于3mm,為了測得他的介電常數(shù),需要一個(gè)很高的電壓,這樣使得設(shè)備條件更加苛刻,實(shí)驗(yàn)環(huán)境也不安全。
      3.試樣中含有雜質(zhì)的測試結(jié)果?答:介電系數(shù)增大,導(dǎo)電介質(zhì)或極性雜質(zhì)的存在,會增加高聚物的導(dǎo)電電流和極化率,因而使介電損耗增大,特別是對于非極性高聚物來說,雜質(zhì)成了引起介電損耗的主要原因。
      3.實(shí)驗(yàn)環(huán)境條件如溫度、濕度對測定結(jié)果的影響。
      溫度:溫度變化會引起高聚物的粘度變化,因而極化建立過程所需要的時(shí)間也起變化。溫度對取向極化(介電常數(shù))有兩種相反的作用,一方面溫度升高,分子間相互作用減弱,粘度下降,使偶極轉(zhuǎn)動取向容易進(jìn)行,介電常數(shù)增加;另一方面,溫度升高,分子熱運(yùn)動加劇,對偶極轉(zhuǎn)動干擾增加,使極化減弱,介電系數(shù)下降。對于一般的高聚物來說,在溫度不太高時(shí),前者占主導(dǎo)地位,因而溫度升高,介電常數(shù)增大,到一定范圍,后者超過前者,介電常數(shù)即開始隨溫度升高而減小。
      濕度:濕度越大,水分越多,能明顯增加高聚物介電損耗的極性雜質(zhì)。在低頻下,它主要以離子電導(dǎo)形式增加電導(dǎo)電流,引起介電損耗;在微波頻率范圍,水分子本身發(fā)生偶極松弛,出現(xiàn)損耗峰。對于極性高聚物,水有不同程度的增塑作用,尤其是聚酰胺類和聚丙烯酸酯類等,結(jié)果將使高聚物的介電損耗峰向較低溫度移動。水對熱固性塑料也有影響。




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