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      北京中儀萬(wàn)成科技有限公司

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      PY6351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)
      參考價(jià): 面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 產(chǎn)品型號(hào)
      • 品牌
      • 其他 廠商性質(zhì)
      • 北京市 所在地

      訪問(wèn)次數(shù):285更新時(shí)間:2023-03-04 13:39:19

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      產(chǎn)品簡(jiǎn)介
      PY6351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)詳情介紹FT-351hightemperaturefourproberesistivitytestsystem功能概述:overview1
      產(chǎn)品介紹

      PY6351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)詳情介紹

      FT-351 high temperature four probe resistivity test system

      功能概述:overview

      1. 四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合

      2. 配置高溫四探針測(cè)試探針治具

      3. PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制.

      4. 量程測(cè)試范圍.


      應(yīng)用說(shuō)明:

      半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求,測(cè)控軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.


      適用行業(yè):Applicable industry:

      用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

      雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法

      標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。


      型號(hào)及參數(shù)Models and technical parameters:

      規(guī)格型號(hào)Models

      PY6351A

      PY6351B

      PY6351C

      1.方塊電阻范圍sheet resistance

      10-5~2×105Ω/□

      10-6~2×105Ω/□

      10-4~1×107Ω/□

      2.電阻率范圍resistivity range

      10-6~2×106Ω-cm

      10-7~2×106Ω-cm

      10-5~2×108Ω-cm

      3.測(cè)試電流范圍test current range

      0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

      1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

      10mA ---200pA

      4.電流精度current accuracy

      ±0.1%讀數(shù)

      ±0.1讀數(shù)

      ±2%

      5.電阻精度resistance accuracy

      ≤0.3%

      ≤0.3%

      ≤10%

      PC軟件界面

      PC software interface

      顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

      LCD: resistance.resistivity. sheet resistance. temperature.unit conversion. temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness

      7.測(cè)試方式test mode

      雙電測(cè)量Double electrical measurement

      8.四探針儀工作電源working power

      AC 220V±10%.50Hz <30W

      9.誤差errors

      ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 standard samples)

      ≤15%

      溫度(選購(gòu))Highest temperature

      (choose and buy)

      常溫 Normal temperature -400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃

      氣氛保護(hù)(氣體客戶自備)

      Atmosphere protection(Gas was provided by customers themselves)

      常用氣體如下:氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均為無(wú)色、無(wú)臭、氣態(tài)的單原子分子

      The usual gases are: helium (He). neon (Ne). argon (Ar). krypton (Kr). xenon (Xe). and radon (Rn). all in colorless. odorless. gaseous monatomic molecules.

      溫度精度

      Temperature precision

      沖溫值 Blunt temperature values:≤1-3℃;控溫精度 control precision:±1°C

      升溫速度:

      rate of temperature increase

      常溫開(kāi)始400℃--800℃需要15分鐘;800℃-1200℃需要30分鐘;1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘

      About 15 minutes at room temperature to 400 ℃. 800 ℃;800 ℃ to 1200 ℃ need 30 minutes;1400 ℃ to 1600 ℃ to 250 minutes. 300 minutes

      高溫材料

      High temperature material

      采用復(fù)合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征Adopt composite ceramic fiber material. have vacuum forming. high temperature not drop powder

      PC軟件

      PC software

      測(cè)試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)!One set Special test PC software. USB communication interface. software interface synchronization display. analysis. save and print data!

      電極材料

      Electrode materials

      鎢電極或鉬電極

      Tungsten electrode or molybdenum electrode

      探針間距

      The probe spacing

      直線型探針,探針中心間距:4mm;樣品要求大于13mm直徑Linear probe. probe center spacing: 4mm;Sample requirements are greater than 13mm diameter

      標(biāo)配外(選購(gòu)):

      Except standard configuration (optional)

      電腦和打印機(jī)1套;2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè);

      1 . One set computer and printer 2.Standard resistance 1 to 5pcs

      高溫電源:

      High temperature power

      供電:400-1200℃ 電源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃電源380V;功率9KW:

      Power supply: 400-1200 ℃ power 220 v. 4 kw power;380 v;1400 ℃ to 1600 ℃ power supply380V ; power 9KW





      整機(jī)示意圖




      整機(jī)工作原理




      方塊電阻測(cè)試時(shí)電流量程選擇表

      方塊電阻(Ω/□

      電流量程

      0---1.2

      100mA

      1---25

      10 mA

      20---250

      1 mA

      200---2500

      100μA

      2000---25000

      10μA

      20000---250000

      1μA

      >200000

      0.1μA

      方阻測(cè)試時(shí)根據(jù)用戶所選擇的電壓測(cè)量低壓6V,中壓15V,高壓32V;材料測(cè)試的時(shí)候一直是6V

      四探針測(cè)試方法

      1.四探針?lè)y(cè)試薄層樣品方阻計(jì)算和測(cè)試原理如下

      直線四探針測(cè)試布局如圖8,相鄰針距分別為S1、S2、S3,根據(jù)物理基礎(chǔ)和電學(xué)原理:

      當(dāng)電流通過(guò)1、4探針,2、3探針測(cè)試電壓時(shí)計(jì)算如下:






      操作流程及步驟

      1.系統(tǒng)連接:將各個(gè)部件及控制系統(tǒng)、電源及USB通訊接口接通;

      2.調(diào)通系統(tǒng)的連接是否正常,可以從PC軟件及電阻率測(cè)試儀上的數(shù)據(jù)變化看出.

      3.在高溫箱體上分段設(shè)定所需要溫度,當(dāng)然也可以不分段而設(shè)定一個(gè)溫度.具體高溫箱體儀表操作請(qǐng)查看《溫度儀表操作手冊(cè)》.

      4.待樣品通過(guò)高溫夾具進(jìn)入高溫箱體.

      5.開(kāi)啟惰性氣體輸入閥門.

      6.溫度實(shí)時(shí)上升過(guò)程中,樣品阻值實(shí)時(shí)曲線變化.

      7.帶溫度達(dá)到設(shè)定值時(shí),自動(dòng)停止加熱.

      8.測(cè)試完畢,關(guān)閉高溫電源,帶10-20分鐘后.

      9.通過(guò)高溫手套,移動(dòng)夾具上升離開(kāi)高溫箱體.

      10.用鑷子取出樣品.



      PC軟件界面圖:




      部分客戶案例:

      河南大學(xué)

      鄭州航空航天學(xué)院

      南京航空航天大學(xué)

      內(nèi)蒙古科技大學(xué)

      西南科技大學(xué)

      宜賓學(xué)院

      北京理工大學(xué)

      優(yōu)點(diǎn)介紹

      1. 精度四探針測(cè)試儀匹配

      2. 集成系統(tǒng)

      3. 溫度達(dá)到1600度.

      4. PC軟件實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理及分析.

      5. 具有保護(hù)氣體功能.




      服務(wù)項(xiàng)目

      1.質(zhì)保:12個(gè)月,長(zhǎng)期維護(hù).

      2.培訓(xùn):操作培訓(xùn):

      電話教學(xué);U盤教學(xué)文件;遠(yuǎn)程可視溝通;現(xiàn)場(chǎng)教學(xué);說(shuō)明書教學(xué)文件

      3.保養(yǎng)和維護(hù):

      提供因知保養(yǎng)和維護(hù)文件、標(biāo)識(shí)、表格 、保養(yǎng)提醒.

      4.驗(yàn)證文件:

      3Q驗(yàn)證文件、計(jì)量證書

      5.擴(kuò)展服務(wù):

      延保服務(wù),樣品測(cè)試服務(wù),后延服務(wù),儀器租賃服務(wù).


      配套方案:


      解決各材料狀態(tài)


      --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀 電阻、電阻率、電導(dǎo)率測(cè)量


      配套選擇方案:

      絕緣材料表面和體積電阻率測(cè)試儀


      PY6302電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀

      PY6300A系列材料電阻率測(cè)試儀

      PY6320低阻材料電阻率測(cè)試儀




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