CDRD510 通用型雷達物位計 詳細介紹：http://yibiao-sh.com/ch/product-2822.html
雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*，發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很?。{秒量級）很難確認。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術，可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間隔，從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。
特 點
由于采用了*的微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結果。
多種過程連接方式及天線型式，使得CDRD50系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質的測量等。
采用脈沖工作方式，雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環(huán)境均無傷害。
應用：液體特別是腐蝕性液體，簡單過程條件
zui大量程：30m
測量精度：±10mm
過程連接：G1½A、1½NPT
天線材料：PP/PTFE
過程溫度：-40～120℃
過程壓力：-0.1～3bar
頻率范圍：6GHz
信號輸出：兩線制/四線制4～20mA/HART
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