SR750 超高分辨率光柵光譜儀結(jié)合創(chuàng)新型的光學器件設(shè)計，SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750 可以配用多種附件，拓展應(yīng)用領(lǐng)域，在透射/ 反射/ 吸收光譜、Raman 光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供的系統(tǒng)解決方案。

SR750超高分辨率光柵光譜儀主要特點：

• 分辨率zui高可達0.02nm

• 多路光譜優(yōu)化光路，低串擾，高密度多路光譜探測

• 針對每臺譜儀記錄三光柵塔輪信息，便于以后光柵升級

• 雙探測器出口選項，可安裝不同類型探測器滿足不同實驗需求

• 多樣化的附件選擇

• 支持單點探測器，波長zui大可達12μm

• 光學元件鍍銀選項，保證紅外探測器更好的性能

SR750超高分辨率光柵光譜儀技術(shù)參數(shù)指標：

配置選項：

附件選項：

光纖、法蘭、動態(tài)狹縫、快門、光柵、可調(diào)底腳