清潔度分析系統(tǒng)BH-CIA600
顯微鏡
? 奧林巴斯（OLYMPUS）顯微鏡SZ61
檢測內容
? 雜質平面尺寸（可擴展雜質高度測量）
? 雜質數(shù)量
? 雜質形狀分類：顆粒或纖維
? 雜質性質分類：反光（金屬），亞光（非金屬，金屬氧化物）
上海百賀儀器科技有限公司
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清潔度分析系統(tǒng)BH-CIA600
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訪問次數(shù)：226更新時間：2022-08-19 17:18:35
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產品介紹
產品參數(shù)
產品編號: 清潔度分析系統(tǒng)BH-CIA600所屬品牌: BAHENS產品型號: BH-CIA600 額定功率：按實際方案提供所屬類別: 清潔度檢測儀所屬用途: 顯微觀察應用領域: 機械制造產品特性: 清潔度分析系統(tǒng)BH-CIA600由奧林巴斯（OLYMPUS）顯微鏡、德國電動臺,自動偏振照明，自動拍照系統(tǒng)、全自動清潔度分析軟件組成。按照各種國內及國際標準：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等，以及客戶自定義的標準，自動生成專業(yè)的清潔度評級和分析報告。下載相關資料-
偏振光照射
依據(jù)雜質的反光和亞光在圖像上的灰度差別，為金屬與非金屬顆粒的判定和判定提供最直接的參考數(shù)據(jù)和影像，用偏振光照射，記錄在兩個情況下進行比較，然后用于準確區(qū)分金屬和非金屬顆粒。
視場自動定位
? 采集過程自動拍照、照片自動保存，進度狀態(tài)實時可見；照片信息存入數(shù)據(jù)庫，方便查詢；
? 提供視場圖片瀏覽功能，可以實現(xiàn)視場定位回溯、重新拍照等功能。
軟件分析
? 主界面包含多種數(shù)據(jù)展示方式：map圖、顆粒分析結果、顆粒數(shù)據(jù)列表、統(tǒng)計直方圖等。
? 支持模板化報告生成模式，包含統(tǒng)計數(shù)據(jù)、評級、濾片全貌圖、顆粒照片等信息。
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