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      高溫柵偏試驗(yàn)系統(tǒng)
      
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      參  考  價(jià)面議  
      
					                    
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      
				
      
				
				
      
						
      
							
      產(chǎn)品型號(hào)HTGB-C16
      
							
      品       牌其他品牌
      
		                    
      廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
      
		                    							
      所  在  地深圳市
      
						
      
                        
                    
      
					 							        										
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								更新時(shí)間：2024-03-21 15:35:31瀏覽次數(shù)：514次
							
      
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                    產(chǎn)品簡(jiǎn)介
                
      
				
      
                      
      
                                                                      
      
					
      品牌： HUSTEC
      名稱： HTGB高溫柵偏試驗(yàn)系統(tǒng)
       型號(hào)： GKH-HTGB-C16
      HTRB/HTGBJ測(cè)試介紹高溫反偏試驗(yàn)（High Temperature Reverse Bias Test，HTRB）是在高溫下加上反向偏壓的工作模式，由于高溫下漏電流增加，質(zhì)量差的器件就會(huì)失效，以此評(píng)估產(chǎn)品的可靠性。
      
				
      
				
      
                    詳細(xì)介紹
                
      
			    
      
			        
      
			            


      產(chǎn)品詳情

      ★主要技術(shù)規(guī)格和性能:
      產(chǎn)品型號(hào)GKH-HTGB-C16
      產(chǎn)品名稱高溫柵偏試驗(yàn)系統(tǒng)
      高溫試驗(yàn)箱PH-201高溫試驗(yàn)箱一臺(tái)，
      試驗(yàn)區(qū)域16個(gè) 
      試驗(yàn)容量每通道80工位，共16通道。
      試驗(yàn)電源選配TDK的Z+系列電源或安捷倫試驗(yàn)電源。
      電源數(shù)量：配置4臺(tái)/8臺(tái)電源。
      輸出范圍：0～35V或0～60V。
      主要功能① 正常HTGB試驗(yàn)，通過按鈕可以選擇正柵壓或負(fù)柵壓，兩種偏壓工作時(shí)只能二選一，不能同時(shí)工作。
      ② 熱阻測(cè)量，即測(cè)量HTGB工作時(shí)的Tj值。
      ③ 高溫試驗(yàn)箱內(nèi)可放置4層板或8層板。具體需根據(jù)器件的封裝尺寸定義。當(dāng)被測(cè)量模塊體積過大時(shí)，由于體積的限制，被測(cè)器件數(shù)據(jù)需相應(yīng)減少。
      ④ 可選配溫度可達(dá)300℃的高溫試驗(yàn)箱。
      測(cè)控功能① 檢測(cè)每個(gè)材料的電壓、漏電流值。
      ② 漏電流超限保護(hù)，自動(dòng)切斷測(cè)量回路。
      ③ 測(cè)量電流范圍：1nA～100uA；
      ④ 電流分辨率：0.5nA；
      ⑤ 測(cè)量精度：±2%±3nA；
      防靜電設(shè)計(jì)① 設(shè)備外殼良好接地；
      ② 預(yù)留靜電接地端子（香蕉插頭插孔）方便操作員連接靜電環(huán)。
      計(jì)算機(jī)工業(yè)級(jí)電腦主機(jī)、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標(biāo)。WINDOWS操作界面，友好的人機(jī)對(duì)話窗口， 強(qiáng)大的圖形編輯能力以及強(qiáng)大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡(jiǎn)單易學(xué)。更有系統(tǒng)查詢?cè)\斷功能， 試驗(yàn)狀況一目了然，方便用戶隨時(shí)查驗(yàn)。
      老化板可按客戶的器件封裝定制老化板。
      電網(wǎng)要求單相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW
      外形尺寸W1360mmхH1820mmхD1320mm
      重量約500kg 

      HTRB/HTGBJ測(cè)試介紹

      高溫反偏試驗(yàn)（High Temperature Reverse Bias Test，HTRB）是在高溫下加上反向偏壓的工作模式，由于高溫下漏電流增加，質(zhì)量差的器件就會(huì)失效，以此評(píng)估產(chǎn)品的可靠性。

      測(cè)試溫度：125℃，150℃或175℃。

      測(cè)試時(shí)間：168h，500h，1000h。

      測(cè)試目的：研究器件在靜態(tài)工作模式下，以額定反向直流電壓下或者80%額定反向直流電壓進(jìn)行工作，以確定偏置條件和溫度隨時(shí)間對(duì)固態(tài)設(shè)備的影響。

      參考測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A108

       

      高溫柵偏試驗(yàn)（High Temperature Gate Bias, HTGB）主要是用于測(cè)定柵氧本身及相關(guān)界面的可靠性。

      測(cè)試溫度：150℃或175℃。

      測(cè)試時(shí)間：500h，1000h。

      參考測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A108

      HTBR和HTGB是可靠性測(cè)試中非常常見的測(cè)試項(xiàng)目。

      適用測(cè)試器件：功率二極管， SiC肖特基和肖特基二極管，晶閘管，三端雙向可控硅和IGBT。

      試驗(yàn)設(shè)備：高溫反偏試驗(yàn)機(jī)

      
			        
      
			    
      
                			    
                                                				
      
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