SuperViewW1表面輪廓光學(xué)測量儀微納米級微觀形貌測量中圖儀器
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深圳市中圖儀器股份有限公司
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號SuperViewW1
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
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更新時間:2023-11-19 13:26:04瀏覽次數(shù):168次
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SuperViewW1表面輪廓光學(xué)測量儀微納米級微觀形貌測量,它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量
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