◆元素分析范圍:從K到U
◆一次性可同時(shí)分析多層鍍層
◆分析厚度檢測出限zui高達(dá)0.01um
◆同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層
◆相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型,厚度分析方法
◆多次測量重復(fù)性zui高可達(dá)0.01um
◆長期工作穩(wěn)定性小于0.1um(5um左右單鍍層樣品)
◆溫度適應(yīng)范圍:15℃~30℃
◆輸出電壓220±5V/50HZ(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
◆開放式樣品腔
◆二維移動(dòng)樣品平臺(tái)
◆探測器和X光管上下移動(dòng)可實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)
◆雙激光定位裝置
◆準(zhǔn)直器自動(dòng)切換裝置
◆玻璃屏蔽罩
◆正比計(jì)數(shù)盒探測器
◆信號(hào)檢測電子電路
◆高低壓電源
◆X光管
◆計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
◆樣品腔尺寸:517mm×352mm×150mm
◆外型尺寸:648mm×490mm×544mm