EDX4500HX熒光光譜儀是利用X熒光檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用X熒光檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。 性能特點高效超薄窗X光管，指標達到水平 的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上 低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好 智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性高信噪比的電子線路單元 針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制內(nèi)置高清晰攝像頭 液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然 技術(shù)參數(shù) 產(chǎn)品型號：EDX 4500H產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一次性可測幾十種元素 分析精度：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性） 測量時間：30秒-200秒 探測器能量分辨率為：145±5eV管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環(huán)境溫度：15℃-30℃ 環(huán)境濕度：35%-70%樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg標準配置高效超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器 數(shù)字多道技術(shù)信噪比增強器 SNE光路增強系統(tǒng) 高信噪比電子線路單元 內(nèi)置高清晰攝像頭 自動切換型準直器和濾光片 自動穩(wěn)譜裝置 三重安全保護模式 可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏真空泵應用領域合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）