IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) IGBT測試儀
ST-DP_X（1500V600A） ¥599PLC 工控機(jī) 嵌入式系統(tǒng) 人機(jī)界面 工業(yè)以太網(wǎng) 現(xiàn)場總線 變頻器 機(jī)器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業(yè)軟件 ICS信息安全 應(yīng)用方案 無線通訊
西安天光測控技術(shù)有限公司
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ST-DP_X（1500V600A）
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西安市
1500V/600A 599元 99臺 可售
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更新時間：2023-09-15 14:42:55瀏覽次數(shù)：497次
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用于測試 Diode, IGBTs,MOSFETs等分立器件動態(tài)交流參數(shù)測試
1500V/600A，短路電流2500A
大功率IGBT動態(tài)測試系統(tǒng)
ST-DP_X（1500V600A）
用于測試 Diode, IGBTs,MOSFETs等分立器件動態(tài)交流參數(shù)測試
1500V/600A，短路電流2500A
閾值電荷 Qg（th） 1nC~5000nC（支持 0.1nC 的*小測量值，*高可至 0.01nC）
柵電荷 Qg 1nC~5000nC（支持 0.1nC 的*小測量值，*高可至 0.01nC）
平臺電壓 VgP 0V~10V
大功率IGBT動態(tài)測試系統(tǒng)
?產(chǎn)品簡述
ST-DPX 系列產(chǎn)品是主要針對 半導(dǎo)體功率器件的動態(tài)參數(shù)測試 而開發(fā)設(shè)計。通過DUT適配器的轉(zhuǎn)換，可測試各類封裝外觀的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模塊、DBC襯板以及晶圓。產(chǎn)品功能模塊化設(shè)計，根據(jù)用戶需求匹配功能單元。測試功能單元有DPT（雙脈沖測試 Double Pulse Testing，以下簡稱DPT。包含開通特性、關(guān)斷特性、反向恢復(fù)特性）柵電荷、短路、雪崩、結(jié)電容、柵電阻、反偏安全工作區(qū)等。測試方案*符合IEC60747-9標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品功能及輸出功率進(jìn)行了模塊化設(shè)計，滿足用戶潛在的后期需求，*高測試電壓電流可擴(kuò)展至10KV/10KA，變溫測試支持常溫到200℃，支持生產(chǎn)線批量化全自動測試。
?產(chǎn)品特點
? 測試系統(tǒng)電壓以1500V為一個模塊，電流以2000A為一個模塊，可擴(kuò)展至10KA/10KV
? 內(nèi)置7顆標(biāo)準(zhǔn)電感負(fù)載可選用, 另有外接負(fù)載接口,可實現(xiàn)不同電感和電阻負(fù)載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)
? 另有程控式電感箱可供選擇
? 針對不同結(jié)構(gòu)的封裝外觀，通過更換 DUT適配器即可
? 可進(jìn)行室溫到200℃的變溫測試,也可實現(xiàn)子單元測試功能
? 測試軟件具有實驗?zāi)Ｊ胶蜕a(chǎn)模式，測試數(shù)據(jù)可存儲為Excel文件
? 門極電阻可任意調(diào)整, 系統(tǒng)內(nèi)部寄生電感為*小至50nH
? 系統(tǒng)測試性能穩(wěn)定,適合大規(guī)模生產(chǎn)測試應(yīng)用（24hr 工作）
? 安全穩(wěn)定（PLC 對設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實時監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖）
? 系統(tǒng)具有安全工作保護(hù)功能，以防止模塊高壓大電流損壞時對使用者造成傷害，設(shè)計符合CE認(rèn)證
? 支持半自動和全自動測試
? 采用品牌工控機(jī)，具有抗電磁*力強(qiáng)，排風(fēng)量大等特點
? 自動化：單機(jī)測試時只需手動放置DUT，也可連接機(jī)械選件實現(xiàn)自動化測試線
? 智能化，通過主控計算機(jī)進(jìn)行操控及數(shù)據(jù)編輯，測試結(jié)果自動保存及上傳局域網(wǎng)
? 安全性，防爆，防觸電，防燙傷，短路保護(hù)等多重保護(hù)措施，確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。
?參數(shù)指標(biāo)
產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀
半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)參數(shù)測試（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
動態(tài)參數(shù)測試（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
環(huán)境老化測試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
熱特性測試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
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