當(dāng)前位置：西安天光測控技術(shù)有限公司>>儀器儀表>>IGBT測試儀>>IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠商

IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠商

返回列表頁

參考價:200

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號
TRd 2015
品牌
其他品牌
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)商
所在地
西安市

規(guī)格

2000A1500V 200元 99臺可售

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：張先生查看聯(lián)系方式

更新時間：2023-09-15 14:48:34瀏覽次數(shù)：1003次

聯(lián)系我時，請告知來自智能制造網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  儀器儀表

半導(dǎo)體測試儀

IGBT測試儀

  其他品牌
  HT

西安天光測控技術(shù)有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：14條

所在地區(qū)：陜西西安市

聯(lián)系人：張先生（銷售主管）

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

天光測控IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠商主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設(shè)計，產(chǎn)線封裝測試及新能源汽車，風(fēng)力發(fā)電，地鐵交通等領(lǐng)域的大功率器件及模塊測試，設(shè)備模塊化程度高，測試穩(wěn)定性及測試精度在客戶端已經(jīng)廣泛使用?？梢愿鶕?jù)就用戶需求進(jìn)行定制。

詳細(xì)介紹

IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠商 IGBT雙脈沖測試系統(tǒng)

品牌 :	天光測控	型號 :	TRd 2015
加工定制 :	是	類型 :	電參數(shù)測試儀
測量范圍 :	電壓2000V，電流1500A	精確度 :	正負(fù)1%精度
儀表尺寸 :	8006001800	適用范圍 :	在線檢修，來料檢驗，失效分析
儀表重量 :	100kg	工作電源 :	220V
規(guī)格 :	IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀	測量精度 :	正負(fù)%1精度測量
功率 :	300W	頻率 :	50Hz

IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠商

產(chǎn)品詳情

天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)設(shè)備主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設(shè)計，產(chǎn)線封裝測試及新能源汽車，風(fēng)力發(fā)電，地鐵交通等領(lǐng)域的大功率器件及模塊測試，設(shè)備模塊化程度高，測試穩(wěn)定性及測試精度在客戶端已經(jīng)廣泛使用。可以根據(jù)就用戶需求進(jìn)行定制。

IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠家-華科智源 IGBT雙脈沖測試系統(tǒng)示例圖1

測試系統(tǒng)以2000A為一個電流模塊,以1500V為一個電壓模塊，電流電壓可升級；

1范圍

天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)范提出的是限度的要求，并未對所有技術(shù)細(xì)節(jié)作出規(guī)定，也未充分引述有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的條文，供貨方應(yīng)提供符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和本技術(shù)規(guī)范的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品。本技術(shù)規(guī)范所使用的標(biāo)準(zhǔn)如遇與供貨方所執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)不*時，應(yīng)按較高標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

2應(yīng)遵循的主要現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)

天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀，功率半導(dǎo)體模塊測試系統(tǒng)的設(shè)計、制造、檢查、試驗等遵循如下國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，但不限于以下標(biāo)準(zhǔn)。

GB 13869-2008 用電安全導(dǎo)則

GB19517-2004 國家電器設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范

GB/T 15153.1-1998 運(yùn)動設(shè)備及系統(tǒng)

GB 4208-2008 外殼防護(hù)等級（IP代碼）（IEC 60529：2001，IDT）

GB/T 191-2008 包裝儲運(yùn)圖示標(biāo)志

GB/T 15139-1994 電工設(shè)備結(jié)構(gòu)總技術(shù)條件

GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

GB/T 3797-2005 電氣控制設(shè)備

GB/T 4588.3-2002 印制板的設(shè)計和使用

GB/T 9969-2008 工業(yè)產(chǎn)品使用說明書總則

GB/T 6988-2008 電氣技術(shù)用文件的編制

GB/T 3859.3 半導(dǎo)體變流器變壓器和電抗器

GB/T 311.1 絕緣配合第1部分：定義、原則和規(guī)則

IEC 60747-2/GB/T 4023-1997 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第2部分:整流二極管

IEC 60747-9:2007/GB/T 29332-2012 半導(dǎo)體器件分立器件第9部分：絕緣柵雙極晶體管（IGBTs）

3技術(shù)要求

3.1整體技術(shù)指標(biāo)

3.1.1 功能與測試對象

*1）功能

天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀，測試單元具備測試IGBT模塊動態(tài)參數(shù)測試。具體測試參數(shù)及指標(biāo)詳見表格411。

*2）測試對象

被測器件主要IGBT模塊。

3.1.2 IGBT模塊動態(tài)測試參數(shù)及指標(biāo)

天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀，測試單元對IGBT模塊和FRD的動態(tài)參數(shù)及其他參數(shù)的定義滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC60747-9以及IEC60747-2。如有其他需求，可自行定義。

以下參數(shù)的測試可以在不同的電壓等級、電流等級、溫度、機(jī)械壓力、回路寄生電感以及不同的驅(qū)動回路參數(shù)下進(jìn)行。

1）圖2 IGBT開通過程及其參數(shù)定義動態(tài)測試參數(shù)

IGBT的開通和關(guān)斷波形及其相關(guān)參數(shù)的定義如圖2、圖3所示。

IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠家-華科智源 IGBT雙脈沖測試系統(tǒng)示例圖2

圖2 IGBT開通過程及其參數(shù)定義
IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀生產(chǎn)廠家-華科智源 IGBT雙脈沖測試系統(tǒng)示例圖3

圖3 IGBT關(guān)斷過程及其參數(shù)定義

表格2 可測量的IGBT動態(tài)參數(shù)

參數(shù)名稱	符號	參數(shù)名稱	符號
開通延遲時間	t_d(on)	關(guān)斷延遲時間	t_d(off)
上升時間	t_r	下降時間	t_f
開通時間	t_on	關(guān)斷時間	t_off
開通損耗	E_on	關(guān)斷損耗	E_off
柵極電荷	Q_g	拖尾時間	t_z
短路電流	I_SC	/	/

可測量的FRD動態(tài)參數(shù)

參數(shù)名稱	符號	參數(shù)名稱	符號
反向恢復(fù)電流	I_RM	反向恢復(fù)電荷	Q_rr
反向恢復(fù)時間	t_rr	反向恢復(fù)損耗	E_rec

3.1.天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀反偏安全工作區(qū)參數(shù)及指標(biāo)

主要參數(shù)

測試范圍

精度要求

測試條件

V_ce

集射極電壓

150

3300V

150

500V±3±1V；

500

1000V±2±2V；

1000

3300V±1±5V；

150

3300V

I_c

集射極電流

200A

200A±3±1A；

200A

V_ge

柵極電壓

-30V

30V

-30

0V±1±0.1V；

+30V±1±0.1V

-30V

30V

柵極電荷

400

20000nC

Ig: 0

50A±3±0.1mA;

40020000nC

t_d(on)_、t_d(off)

開通/關(guān)斷延遲

1000ns

10200±2±2ns；2001000±2±5ns

t_r_、t_f

上升/下降時間

1000ns

10200±2±2ns；2001000±2±5ns；

E_on_、E_off

開通/關(guān)斷能量

5000mJ

50mJ±2±0.1mJ；

200mJ±2±1mJ；

200

1000mJ±2±2mJ；

1000

5000mJ±1±5mJ；

主要參數(shù)

測試范圍

精度要求

測試條件

V_cc

二極管電壓

3300V

200

500V±3±1V；

500

1500V±2±2V；

200

3300V

I_RM

反向恢復(fù)電流

200A

200A±3±1A；

200A

Q_rr

反向關(guān)斷電荷

20000μC

200μC±3±1 μC；

200

1000μC±3±2 μC；

1000

5000μC±2±5 μC；

5000

20000μC±2±10μC；

20000μC

t_rr

反向恢復(fù)時間

2000ns

20100±3±1ns；100500±3±2ns；

5002000±2±5ns；

2000ns

E_rec

反向關(guān)斷能量損失

5000mJ

50mJ±3±0.1mJ；50

200mJ±3±1mJ；

200

1000mJ±2±2mJ；

1000

5000mJ±1±5mJ

5000mJ

3.1.4天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀保護(hù)安全功能

本測試單元應(yīng)具備完善的保護(hù)功能，除可有效保護(hù)操作人員不受事故傷害外，還在發(fā)生故障時不會造成設(shè)備自身的較大損壞，通過采取更換小型部件的方式即可修復(fù)。保護(hù)功能包括但不限于如下功能：

l *高壓測試前可選低壓預(yù)測試驗證系統(tǒng)安全及連接良好

l *完備的人身安全防護(hù)

l 測試結(jié)束電容自動放電

l 測試過程中短路保護(hù)（非短路測試）

l *被測器件防爆保護(hù)

3.2天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀測試單元組成

本測試單元包括動態(tài)參數(shù)測試部分，主要組成材料及其要求如下所示。

3.2.1 天光測控大功率IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀動態(tài)參數(shù)測試部分主要材料清單

表格12動態(tài)參數(shù)測試部分組成

序號	組成部分	單位	數(shù)量
1	可調(diào)充電電源	套	1
2	直流電容器	個	8
3	動態(tài)測試負(fù)載電感	套	1
4	安全工作區(qū)測試負(fù)載電感	套	1
5	補(bǔ)充充電回路限流電感L	個	1
6	短路保護(hù)放電回路	套	1
7	正常放電回路	套	1
8	高壓大功率開關(guān)	個	5
9	尖峰抑制電容	個	1
10	主回路正向?qū)ňчl管	個	2
11	動態(tài)測試?yán)m(xù)流二極管	個	2
12	安全工作區(qū)測試?yán)m(xù)流二極管	個	3
13	被測器件旁路開關(guān)	個	1
14	工控機(jī)及操作系統(tǒng)	套	1
15	數(shù)據(jù)采集與處理單元	套	1
16	機(jī)柜及其面板	套	1
17	壓接夾具及其配套系統(tǒng)	套	1
18	加熱裝置	套	1
19	其他輔件	套	1