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我公司是一精密測試儀器代理商，*代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。以下是我集團(tuán)的其他主要產(chǎn)品：美國INNOVX伊諾斯XRF-6500 RoHS分析儀美國OMEGA 600SMD離子污染測試儀美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀美國WALCHEM（禾威）電鍍藥液自動(dòng)添加系統(tǒng)美國CECO PCB基材測試系統(tǒng)美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品美國UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測試儀美國DICKSON溫濕度記錄儀美國SPELLMAN 高壓電源供應(yīng)器日本KETT磁感/高周波涂層測試儀日本KYORITSU水質(zhì)離子測試包英國JENWAY分光光度計(jì)韓國SEC X-射線透視檢查儀德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品德國WTW實(shí)驗(yàn)室 / 工業(yè)用水質(zhì)檢查系統(tǒng)俄羅斯PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測厚儀新加坡Qtest CIMS 特性阻抗測試儀 ；公司代理各國名廠符合ipc標(biāo)準(zhǔn)之工業(yè)測試及精密試驗(yàn)室設(shè)備，服務(wù)對象為pcb、半導(dǎo)體、lcd、電子、連接器、五金電鍍廠商及科研機(jī)構(gòu)試驗(yàn)室?，F(xiàn)特別*以下產(chǎn)品，歡迎咨詢及所取產(chǎn)品資料。一、高品質(zhì)環(huán)境測試設(shè)備全線環(huán)境測試設(shè)備包括：溫濕度記錄儀、可編程式溫濕度控制箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、老化測試箱、強(qiáng)制劣化試驗(yàn)機(jī)、鹽霧試驗(yàn)箱、振動(dòng)/落下試驗(yàn)機(jī)等。二、印刷電路板物理測試設(shè)備電路板樣品制作設(shè)備、x射線熒光測厚儀（美國thermonoran、日本精工、韓國macropioneer）、金相微切片制作設(shè)備美國extec、德國scandia）、銅箔拉力計(jì)（美國cece之ta620、ta630、ta631）、銅箔測厚儀、層壓板凝膠溫度計(jì)（美國cece公司之ta650）、基板板厚測量計(jì)、線性微距測量計(jì)、v槽深度計(jì)、粘度計(jì)、電弧電阻值測量計(jì)、基板耐高壓測試儀、高（低）電阻測試儀、基板拉力試驗(yàn)機(jī)、磨擦損耗試驗(yàn)機(jī)、燃燒性試驗(yàn)機(jī)、精密硬度計(jì)、可焊性測試儀、特性阻抗測試儀（英國）、pcb離子污染度測試儀（適用于軟、硬板）、x光透視儀日本pony）（可透視內(nèi)層）、島津全自動(dòng)便攜式氦質(zhì)譜檢漏儀、微粒粒子計(jì)數(shù)儀（用于檢測試驗(yàn)室或工廠環(huán)境潔凈等級(jí)是否合格）。三、日本光學(xué)檢查及視像測量設(shè)備高倍金相顯微鏡、視像攝?。瓬y量－顯示－處理系統(tǒng)、非接觸式深度（高度）測量顯微鏡、非接觸精密（xy坐標(biāo)）測量顯微鏡、二次/三次元平面坐標(biāo)測量機(jī)、電路板通孔檢測顯微鏡、平臺(tái)式立體平面檢測顯微鏡、孔徑測量計(jì)、孔規(guī)。四、電鍍控制設(shè)備禾威酸堿/氧化還原自動(dòng)控制設(shè)備，包括：1.化學(xué)鍍銅/鎳藥液自動(dòng)添加設(shè)備2.微蝕刻銅自動(dòng)添加設(shè)備3.液冷水塔自動(dòng)添加設(shè)備4.可同時(shí)控制多個(gè)水泵及輸出5.符合歐洲及美國標(biāo)準(zhǔn)美國eci電鍍光亮劑分析儀五、其它設(shè)備1、德國wtw全線試驗(yàn)室或手提水質(zhì)檢測設(shè)備2、純水機(jī)3、污水重金屬測量光度計(jì)4、x光*5、微型光纖分光儀6、紫外光/可見光分光光度計(jì)7、奧地利secon高效率晶圓干蝕刻/削薄機(jī)8、美國mct公司之ic檢測傳輸機(jī)9、應(yīng)用于lcd的顯微檢測系統(tǒng)10、微波射線發(fā)生器11、icp光譜儀12、日本kyoritsu污水測試包