詳細(xì)介紹
X射線熒光光譜儀的微焦斑X射線光管,即使光斑尺寸小到100µm也可以產(chǎn)生足夠的射線強度,光斑大小取決于所使用的準(zhǔn)直器。
采用視頻顯微鏡進(jìn)行準(zhǔn)確定位,可以測量任何想測的位置。可選計算機控制的自動樣品臺,并自動聚焦。
不管您是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)來控制樣品的質(zhì)量,還是測量*未知樣品的組成,XSpect分析軟件都提供了合適的工具:對于塊狀樣品和多層膜樣品,進(jìn)行有標(biāo)樣定量和無標(biāo)樣定量(基本參數(shù)法)。點擊一下鼠標(biāo)就可以自動進(jìn)行重復(fù)測量。
M1 MISTRAL可配兩種不同類型的探測器:大面積的充氣正比計數(shù)器,可用于質(zhì)量控制中的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用;或者配置硅漂移探測器,具有超快的檢測速度和非常好的能量分辨率,檢出限可以達(dá)到0.01%。*的探測器、數(shù)字脈沖處理器及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu),確保了X射線探測的大效率,以快速地得到準(zhǔn)確的分析結(jié)果。
M1 MISTRAL及其軟件的設(shè)計,讓操作人員只需經(jīng)過簡單培訓(xùn)即可使用。
僅一個電源接口就可以運行儀器,采用空氣冷卻,無需消耗品。堅固的結(jié)構(gòu)確保高的穩(wěn)定性,并且*免維護(hù)。
X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)
M1 MISTRAL根據(jù)所配探測器不同分為二種型號:正比計數(shù)器(PC)型和高分辨的硅漂移探測器(SDD)型
M1 MISTRAL(PC)
激發(fā)源 高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗
電壓及功率 40 kV, 40 W
探測器 大面積正比計數(shù)器,1100 mm²感應(yīng)面積
光斑尺寸 準(zhǔn)直器交換器,0.3 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統(tǒng),放大倍數(shù)20-40倍
樣品臺 馬達(dá)驅(qū)動Z方向樣品臺,自動對焦。
選項:馬達(dá)驅(qū)動X-Y-Z樣品臺,自動對焦,便捷進(jìn)樣功能
定量分析 塊狀樣品:基于標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法模型和無標(biāo)樣模型
鍍層分析:基本參數(shù)法模型
電源: 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 大功率100 W
尺寸(寬x深x高)550 x 700 x 430 mm
重量 46 kg
M1 MISTRAL(SDD)
激發(fā)源 高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗
電壓及功率 50 kV, 50 W
探測器 電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測器,30 mm²感應(yīng)面積,對Mn-Ka能量分辨率小于150 eV
光斑尺寸 準(zhǔn)直器交換器,0.5 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統(tǒng),放大倍數(shù)20-40倍
樣品臺 馬達(dá)驅(qū)動X-Y-Z樣品臺,自動對焦,便捷進(jìn)樣功能。
定量分析 塊狀樣品:基于標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法模型和無標(biāo)樣模型
鍍層分析:基本參數(shù)法模型
電源: 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 大功率120 W
尺寸(寬x深x高)550 x 700 x 430 mm
重量 50 kg