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南京蘇量檢測(cè)儀器設(shè)備有限公司
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更新時(shí)間:2025-03-15 09:30:19瀏覽次數(shù):24次
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XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器一、用途:按照J(rèn)JG536-2015《旋光儀與旋光糖量計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求,檢定自動(dòng)旋光糖量計(jì)低透過率示值誤差和重復(fù)性時(shí),對(duì)于確實(shí)無法采用機(jī)械斬波低透過率模擬器時(shí),采用的透過率光譜中性衰減模擬器,為新增加配置的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器
XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器
一、用途:
按照JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求,檢定自動(dòng)旋光糖量計(jì)低透過率示值誤差和重復(fù)性時(shí),對(duì)于確實(shí)無法采用機(jī)械斬波低透過率模擬器時(shí),采用的透過率光譜中性衰減模擬器,為新增加配置的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器。
二、主要參數(shù):
在儀器測(cè)定波長(zhǎng)名義值(589nm、880nm、882nm)上下10 nm范圍內(nèi),對(duì)于衰減比為10%、1%,其衰減相對(duì)變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對(duì)旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
XJT型機(jī)械斬波低透過率模擬器
一、用途:
按照JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求,檢定自動(dòng)旋光糖量計(jì)低透過率示值誤差和重復(fù)性時(shí)需要新增加配置的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器。
二、主要參數(shù):
(1)低透過率模擬值1%、10%
(2)10%透過率模擬值相對(duì)偏差優(yōu)于±10%;1%透過率模擬值相對(duì)偏差優(yōu)于±20%。
(3)供電電壓:220V AC
(4)高速電機(jī)轉(zhuǎn)速大于5000r/min
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