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詳細(xì)介紹
TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)
TMS是一套全波長的透過率測量儀(ir透過率測量儀)，能快速準(zhǔn)確地測量各類平面、球面、非球面等光學(xué)元件的相/透射率，可用于實時顯示單、多點波長透過率數(shù)據(jù)及波段平均透過率數(shù)據(jù)。適用于手機(jī)蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面、球面非球面光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測。紫外透過率測量儀專為檢測樣品紫外波段透過率設(shè)計。
紫外透過率測量儀
顯微透過率測量儀基于普通透過率測量儀的測試原理，增加顯微光路和成像CCD對測試區(qū)域進(jìn)行精確定位，用小尺寸光斑（0.3mm）測試樣品微小區(qū)域的相/透射率。除了可對玻璃、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的透過率檢測之外，特別適用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過率檢測。
TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)-技術(shù)參數(shù)
| 型號 | TMS（I型） | TMS（Ⅱ型） | TMS（III型） |
| 探測器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照2D-CCD | Hamamatsu背2D-CCD |
| 檢測范圍 | 380-1000nm (紫外:200-850nm) | 380-1100nm (紫外:200-1100nm) | 360-1100nm (紫外:225-1000nm) |
| 信噪比（全信號） | 250：1 | 450:1 | 1000：1 |
| 相對檢測誤差 | ﹤0.6%（410-900nm） | ＜0.4%（410-1000nm） | ﹤0.2%（410-1000nm） |
| 檢出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
| 單次測量時間 | ﹤1s | ||
| CCD制冷 | 未制冷 | 未制冷 | -20℃ |
| 樣品尺寸 | ≥ Φ1.5mm (顯微:≥0.8nm) | ||
| 光斑 | 可調(diào)，≥ Φ0.6mm（顯微≥ Φ0.3mm） | ||
| 操作系統(tǒng)/接口 | Windows XP, Windows | ||
| 電源/功率 | 220V-50HZ /6W | ||
TMS
透過率測量儀-的軟件設(shè)計l 智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
l 譜圖管理:可同時記錄多達(dá)20個樣品譜圖，批量保存測量結(jié)果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，地方便了譜圖的管理和分析。
l 自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確。
l 譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果，用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加、修改和刪除，還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對譜圖進(jìn)行分析和研究。
l CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù)， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。
l 數(shù)據(jù)報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱。
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