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CIA-500自動清潔度檢測系統(tǒng)
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- CIA-500 產(chǎn)品型號
- 品牌
- 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
- 所在地
訪問次數(shù)：212更新時間：2022-08-19 17:18:35
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產(chǎn)品介紹
1、界面一目了然、操作簡單。
2、三點(diǎn)定圓確定濾紙大小
軟件采用三點(diǎn)定圓的算法,確定濾紙的直徑和掃描范圍。
3、全自動掃描，圖像拼接、手動聚焦
快速、高效、精準(zhǔn)的濾膜圖像自動掃描和拼接（如果用體式顯微鏡方案，速度大約2分鐘）?？啥c(diǎn)
移動到視場或顆粒位置進(jìn)行觀察，可用鼠標(biāo)滾輪調(diào)節(jié)焦距。
（平臺控制界面）
（拼接后的圖像）
4、自動搜出金屬、非金屬顆粒以及纖維
（1）明場/暗場分析模式：
對明場圖像進(jìn)行金屬顆粒分析，對暗場圖像（分析時，需加裝偏光裝置）進(jìn)行非金屬顆粒分析，最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，分析精確度高。
l 先載入明場模式下的圖像進(jìn)行金屬顆粒分析。
（明場下標(biāo)記可能是金屬的顆粒）
l 再載入暗場模式下的圖像進(jìn)行非金屬顆粒分析
（暗場下標(biāo)記可能是非金屬的顆粒）
l 最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)：軟件自動整合明場和暗場下的分析結(jié)果進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
（金屬與非金屬顆粒分析結(jié)果）
（2）明場分析模式：
只對明場圖像進(jìn)行金屬非金屬分析，最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，分析精確度相對來說較低，但分析速度快。
l 載入明場圖像，進(jìn)行金屬顆粒分析
l 再在該圖像下，進(jìn)行非金屬顆粒分析
l 最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)：軟件自動整合明場下的金屬顆粒和非金屬分析結(jié)果進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
（金屬與非金屬顆粒分析結(jié)果）
注：只有進(jìn)行顆粒統(tǒng)計(jì)分析后，才能精確分析出該顆粒是否是金屬或者非金屬顆粒。
5、支持ISO16232、IS04406/4407、GBT14039、GB/T20082-2006及自定義標(biāo)準(zhǔn)
（GBT14039）
（ISO4406/4407）
（ISO 16232）
（GB/T 20082-2006）
（自定義標(biāo)準(zhǔn)）
6、輸出圖文檢測報告
系統(tǒng)配置清單
NO | 項(xiàng)目 | 技術(shù)參數(shù) |
1-1 | 正置金相顯微鏡（2選1） | 型號：CIA-500 鏡頭：2倍，5倍，10倍（物鏡數(shù)量3個） 偏光裝置：可選 |
1-2 | 體式顯微鏡 （2選1） | 型號：CIA-100 連續(xù)變倍體式顯微鏡； 放大倍數(shù)范圍0.7-4.5，通過旋鈕進(jìn)行變倍調(diào)節(jié)； 偏光裝置：可選 |
2 | 電動載物臺 | 平臺行程： 70*70（單位mm） 螺桿導(dǎo)程：2000μm 重復(fù)定位精度：±5μm以內(nèi) 16細(xì)分下的分辨率：單步0.625μm 步進(jìn)電機(jī)步距角：1.8° 額定工作電流：單軸1.0A（24V電源供電） 負(fù)載：≥5kg 往返間隙：5微米 |
3 | 驅(qū)動控制箱 | 長*寬*高：307*260*105（單位：毫米） 觸摸屏：實(shí)時顯示數(shù)據(jù)以及觸控操作 采用通用232串口與PC機(jī)進(jìn)行通信（115200波特率） 串口控制，能設(shè)置電機(jī)的移動速度，移動距離，移動方向 |
4 | 攝像頭 | 300萬或500萬數(shù)字?jǐn)z像頭 |
5 | 軟件 | 清潔度圖像分析軟件 |
6 | 電腦（選配） | 推薦配置：WIN7操作系統(tǒng)，4核CPU，4G內(nèi)存。 |
1、實(shí)物圖像
l 正置金相顯微鏡方案：
l 體式顯微鏡方案：
l 平臺特寫：
l 控制器：
l 濾膜：
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