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      泰西(北京)精密技術(shù)有限公司

      免費(fèi)會(huì)員·8年
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      ZEISS T-POINT
      參考價(jià): 面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 產(chǎn)品型號(hào)
      • 品牌
      • 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
      • 北京市 所在地

      訪問次數(shù):287更新時(shí)間:2022-08-19 17:17:20

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      產(chǎn)品簡(jiǎn)介
      ZEISS T-POINT
      產(chǎn)品介紹

      ZEISS T-POINT接觸測(cè)頭快速可靠地測(cè)量所選擇的測(cè)量點(diǎn),使其成為在物體區(qū)域內(nèi)進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)量的解決方案,如(修剪)邊緣和規(guī)則的幾何形狀。該裝置可與傳統(tǒng)的測(cè)頭一起使用,測(cè)頭更換更加簡(jiǎn)單、快速。

      便攜式測(cè)量技術(shù)可供制造商和生產(chǎn)經(jīng)理直接在生產(chǎn)車間使用,從而大幅提升質(zhì)量控制工作的靈活性和效率。ZEISS T-POINT便攜式 CMM 測(cè)量筆 不易受環(huán)境變化的影響,可生成高精度的測(cè)量數(shù)據(jù)。便攜式 CMM測(cè)量筆無(wú)需固定的測(cè)量設(shè)置,在車間環(huán)境中的表現(xiàn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)的便攜式 CMM。

      ZEISS T-POINT系統(tǒng)功能完備,可實(shí)時(shí)執(zhí)行其掃描和探測(cè)設(shè)備與被測(cè)部件上目標(biāo)點(diǎn)之間的動(dòng)態(tài)參考。ZEISS T-TRACK光學(xué)跟蹤器及無(wú)線探頭在測(cè)量過程中均可隨時(shí)移動(dòng),并生成同樣高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。ZEISS T-POINT便攜式光學(xué)測(cè)量筆專為滿足當(dāng)今制造業(yè)對(duì)質(zhì)量的高度要求而設(shè)計(jì),具有少有的靈活性,測(cè)量范圍相對(duì)其他便攜式 CMM 更加廣泛。

      此計(jì)量檢測(cè)解決方案可幫助制造企業(yè)消除制造過程效率低下的問題,避免不必要的開銷。


      圖片2.png

      特性:

      計(jì)量級(jí)測(cè)量:具有超高的精度,更有較高的重復(fù)性及可追蹤認(rèn)證

      動(dòng)態(tài)參考:通過光學(xué)反射器準(zhǔn)確到幾微米產(chǎn)品一個(gè)“鎖定"到部件本身的參照系,用戶因而可以在測(cè)量過程中隨意移動(dòng)對(duì)象

      可準(zhǔn)確測(cè)量多種部件尺寸

      現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)步驟簡(jiǎn)便,質(zhì)量控制精度不受時(shí)間影響

      無(wú)需固定設(shè)置:測(cè)量過程中可隨時(shí)自由移動(dòng)部件和系統(tǒng)

      測(cè)量范圍更寬廣并易于擴(kuò)展

      自動(dòng)對(duì)齊:借助光學(xué)反射器可實(shí)現(xiàn)重復(fù)檢測(cè)而無(wú)需重新對(duì)齊

      人體工程學(xué)設(shè)計(jì),具有多功能按鈕,與軟件交互更為簡(jiǎn)便

      學(xué)習(xí)周期短,操作直觀

      圖片3.png



      應(yīng)用:

      檢測(cè)和質(zhì)量控制

      • 逆向工程

      • 部件至 CAD 分析

      • 和供應(yīng)商質(zhì)量檢測(cè)

      • 針對(duì) 3D 模型與原始部件或生產(chǎn)工具的一致性評(píng)估

      • 針對(duì)制成部件與原始部件的一致性評(píng)估

      • 對(duì)齊

      • 工具認(rèn)證

      • 多點(diǎn)測(cè)量

      • 與 ZEISS T-SCAN 結(jié)合使用時(shí),可實(shí)現(xiàn)全自由形態(tài)檢測(cè)并生成高密度色圖。




      逆向工程:

      • 幾何實(shí)體的逆向工程(球面、柱面、平面)

      • 與 ZEISS T-SCAN 光學(xué) CMM 掃描儀結(jié)合使用時(shí),可對(duì)混合部件(幾何與自由形態(tài))執(zhí)行更快更準(zhǔn)確的逆向工程


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