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      東莞市愛佩試驗設(shè)備有限公司

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      小型恒溫老化箱
      參考價: 面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 產(chǎn)品型號
      • 品牌
      • 0 廠商性質(zhì)
      • 東莞市 所在地

      訪問次數(shù):195更新時間:2022-06-28 11:45:43

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      高低溫試驗箱

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      聯(lián)人:
      賴明生

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      產(chǎn)品簡介
      小型恒溫老化箱設(shè)備介紹:老化試驗箱有很多種類型,高低溫老化試驗箱就是其中一種,小型恒溫老化箱主要是給硅膠禮品、橡膠制品、硅膠飾品、數(shù)碼配件、電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、光電產(chǎn)品等工業(yè)產(chǎn)品檢驗其各項性能指標(biāo)是否能適應(yīng)在高溫或者低溫或者高低溫(交變)循環(huán)變化下的使用、生產(chǎn)、檢測及儲存
      產(chǎn)品介紹



        小型恒溫老化箱

        設(shè)備介紹:

        老化試驗箱有很多種類型,高低溫老化試驗箱就是其中一種,小型恒溫老化箱主要是給硅膠禮品、橡膠制品、硅膠飾品、數(shù)碼配件、電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、光電產(chǎn)品等工業(yè)產(chǎn)品檢驗其各項性能指標(biāo)是否能適應(yīng)在高溫或者低溫或者高低溫(交變)循環(huán)變化下的使用、生產(chǎn)、檢測及儲存。本設(shè)備具備有單獨高溫老化的功能、也具備單獨低溫老化,還可高低溫交變老化、高低溫循環(huán)老化、高低溫恒定老化等功能。高低溫老化試驗箱有模擬大氣環(huán)境中高低溫溫度的變化規(guī)律。主要針對于工業(yè)成品或者半成品以及其元器件及其它材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下的適應(yīng)性試驗。常用于工業(yè)產(chǎn)品鑒定,設(shè)計,改進及檢驗等環(huán)節(jié)。(更多聯(lián)系龍小姐)
        小型恒溫老化箱技術(shù)參數(shù)
        1.內(nèi)部尺寸:(W×H×D)50×60×50cm

        2.外部尺寸:(W×H×D)108×155×110cm
        3.重量:約250Kg
        4.調(diào)溫方式:平衡調(diào)溫(BTHC)PID智能調(diào)節(jié)
        5.溫度范圍:0 ℃, -20 ℃, -40 ℃, -60 ℃, -70 ℃ ~150 ℃ ; 20%-98%R.H
        6.溫度控制精度:±0.2℃;
        7.均勻度:±0.5℃ ~±0.2℃;
        8.解析精度:±0.01%℃;
        9.升溫速率:≥ 3°C/min
        10.降溫速率:平均1°C/min
        11.內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 優(yōu)質(zhì)不銹鋼板
        13.外箱材質(zhì):SUS#304拉絲不銹鋼板或防銹處理冷軋鋼板(烤漆)
        14.絕緣材料:超細(xì)玻璃棉 + 聚胺脂泡沫
        15.制冷方式:機械式二元制冷方式
        16.制冷機:全封閉(法國泰康或德國谷輪)壓縮機
        17.制冷劑:R23/ R404A
        18.冷凝方式:風(fēng)冷或水冷
        19.加熱器:鎳鉻合金不銹管加熱器
        20.鼓風(fēng)機:離心風(fēng)機
        21.氣流方式:寬帶式強迫氣流循環(huán)(上出下進)22.控制器操作界面:液晶觸摸顯示屏,中英文切換
        23.運轉(zhuǎn)方式:恒定運轉(zhuǎn)+程序運轉(zhuǎn)
        24.程序記憶容量:120 組可編程序、每個程序100 (段)
        25.設(shè)定指標(biāo)范圍:溫度:-100℃+300℃
        26.分辨率:溫度:0.1℃
        27.輸入:PT100或T型熱電偶
        28.控制方式:PID控制
        29.通訊功能:RS-232 接口
        小型恒溫老化箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
        ①GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
        ②GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;
        ③GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;
        ④GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法;
        ⑤GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》;
        ⑥GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》;。
        ⑦MIL-STD810D方法502.2 美用標(biāo)準(zhǔn);
        ⑧IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
        ⑨EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

         

         

         



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