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訪問次數(shù):3534更新時間:2023-08-18 07:56:15

劉丹

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激光光電探測系統(tǒng)線性性能檢測
激光光電探測系統(tǒng)線性性能檢測裝置于透射式和折反式導引頭探測器彌散圓調(diào)試與導引頭光電線性區(qū)測試。
檢測紅外器件光敏面大小、均勻性、多元器件的*性及串音情況。這對于提高紅外系統(tǒng)特別是以探測器為視場光闌的系統(tǒng)搜索和跟蹤精度,提高成像系統(tǒng)的清晰度都具有重要意義。紅外小光點系統(tǒng)首先要檢測光斑彌散圓大小,才能投入使用。迄今為止,幾乎所有的紅外光學系統(tǒng)的裝校和檢測都是在可見光譜區(qū)進行。這就要求光學系統(tǒng)只能設(shè)計成反射系統(tǒng)。隨著紅外儀器發(fā)展,紅外透鏡已經(jīng)被采用;在反射系統(tǒng)中常常要加紅外波段濾光片;中紅外以上的探測器往往都帶有透紅外而不透可見光的窗口。帶有這些光學零件的紅外系統(tǒng),裝調(diào)和檢測不能在可見光譜區(qū)進行。
激光光電探測系統(tǒng)線性性能檢測技術(shù)規(guī)格
適用波長 | 1.06um |
調(diào)節(jié)方式 | 方位、俯仰和滾轉(zhuǎn)調(diào)節(jié) |