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深圳科瑞技術(shù)股份有限公司
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科瑞技術(shù)AOI家庭新成員,將亮相中國(guó)工博會(huì)!
“第二十三屆中國(guó)國(guó)際工業(yè)博覽會(huì)"(簡(jiǎn)稱中國(guó)工博會(huì))將于12月1日在國(guó)家會(huì)展中心(上海)舉辦,深圳科瑞技術(shù)股份有限公司(簡(jiǎn)稱科瑞技術(shù))攜AOI家庭新成員RevEye PLUS-DD高精度智能外觀檢測(cè)設(shè)備,將在展會(huì)中亮相。 2021年科瑞技術(shù)研發(fā)的新產(chǎn)品RevEye PLUS-DD高精度智能外觀檢測(cè)設(shè)備,相比2020年推出的RevEye AOI 360中框檢測(cè)設(shè)備,通過(guò)多角度、多光譜、多視野范圍的拍照,凸顯和探測(cè)特定角度拍攝的缺陷類型,同時(shí)實(shí)現(xiàn)亞像素級(jí)別的尺寸測(cè)量。 1.可根據(jù)客戶需求自如收放控制缺陷數(shù)據(jù)庫(kù),同時(shí)具備精準(zhǔn)缺陷尺寸測(cè)量功能,滿足過(guò)漏檢及良率的要求; 2.雙協(xié)作機(jī)器人分工分段進(jìn)行自動(dòng)化上下料,柔性運(yùn)動(dòng)覆蓋不規(guī)則產(chǎn)品的任一角度,可高速實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品所有外表面缺陷檢測(cè),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)生產(chǎn)線良率; 3.針對(duì)不同產(chǎn)品,自動(dòng)追蹤運(yùn)動(dòng)軌跡并進(jìn)行補(bǔ)償,去除機(jī)械誤差影響,糾正圖像偏移,保證測(cè)試精度; 4.提升光相硬件,提高缺陷探測(cè)能力和準(zhǔn)確性,針對(duì)探測(cè)難辨識(shí)的缺陷,采用特殊光譜與打光技術(shù),利用不同角度和強(qiáng)度光譜光源凸顯并識(shí)別缺陷,可檢測(cè)表面色差,色差范圍5-10GV,視材料來(lái)定; 5.可針對(duì)零件的邊、孔、弧線等特征進(jìn)行亞像素級(jí)別的判斷,無(wú)接觸式測(cè)量,實(shí)現(xiàn)被測(cè)物和零損傷。 隨著PLUS-DD新成員的加入,科瑞技術(shù)在AOI領(lǐng)域已有RevEye-Precision、RevEye-Integral、RevEye-Cosmetic、RevEye-Odd Shape、AOI 360中框檢測(cè)設(shè)備等??蓮V泛應(yīng)用于3C產(chǎn)品、汽車零部件、醫(yī)療器件、硬盤(pán)零部件等產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)和產(chǎn)品測(cè)量等。未來(lái),我們將繼續(xù)深耕AOI領(lǐng)域,為客戶降低人力成本,提高生產(chǎn)效率,滿足客戶需求。
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