產(chǎn)品介紹：
         LD8900遠場分析儀于測量角度輻射光源的強度，直接實時測量遠場的動態(tài)范圍高于24dB，角度采樣分辨率為0.055°，角度掃描范圍為+/-72°（144°）。是測量多種光源的光輻射通量的理想工具，包括垂直腔面發(fā)射激光器，激光二極管，光纖和光波導(dǎo)等?？梢詫h場進行三維測量，具有比CCD更高的分辨率。
         LD8900遠場分析儀可以采用硅探測器（工作波長320-1100nm）或者銦鎵砷探測器（工作波長800-1700nm），有標(biāo)準(zhǔn)的2毫米寬度的入射光狹縫，對于大光源，像發(fā)光二極管或激光二極管陣列等，可以采用10毫米寬度的入射光狹縫。是激光二極管、光纖等產(chǎn)品研發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)及應(yīng)用中的標(biāo)準(zhǔn)測量工具。
         LD8900用于測量數(shù)值孔徑、漫透射體的散射圖樣、光波導(dǎo)、光路中元件的影響（比如棱鏡，濾波器，波導(dǎo)）、帶尾纖的光源、單模和多模光纖；用于優(yōu)化光纖、腔體、透鏡、探測器、波導(dǎo)陣列、色散補償器件、波分復(fù)用和解復(fù)用、其它光學(xué)器件的能量耦合。