泛美35，35DL精密超聲波測厚儀特點：
所有型號的標(biāo)準(zhǔn)配置均包含聲速和減縮率測量。
• 可測厚度范圍寬：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取決于儀器和材料。
• 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。
• 自動調(diào)用功能可調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置。
• 手持式，僅重0.24公斤（8.5盎司）。
• zui小/zui大模式
• 高-低報警
• 英制和公制顯示（英寸或毫米）
• 多種語言用戶界面
• *電池
35型和35DL型測厚儀使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。
泛美35，35DL精密超聲波測厚儀應(yīng)用：
• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達(dá)0.001毫米或0.0001英寸
Panametrics 35系列的其它特性:利用減縮率，可測量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。
減縮率測量
35和35DL標(biāo)準(zhǔn)配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實測厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化。縮減率計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應(yīng)用是對為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進(jìn)行測量。

材料聲速測量
所有Panametrics 35型儀器均具有測量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關(guān)系的應(yīng)用中，這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型應(yīng)用包括監(jiān)測金屬鑄件的球化程度，以及監(jiān)測復(fù)合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個數(shù)字卡尺，用于自動傳輸測量厚度值。