產(chǎn)品簡(jiǎn)介

PIND檢測(cè)技術(shù)原理

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)（Particle Impact Noise Detection，PIND）試驗(yàn)是一種多余物檢驗(yàn)的有效手段.其原理是利用振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)生一系列的機(jī)械沖擊和振動(dòng)，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松動(dòng)，再通過一定頻率的振動(dòng)，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?；顒?dòng)多余物在產(chǎn)品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對(duì)產(chǎn)品殼體的滑動(dòng)過程和撞擊過程的一個(gè)隨機(jī)組合過程。

在這個(gè)過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播，并形成混響信號(hào)，這個(gè)混響信號(hào)被定義為位移信號(hào)。采用壓電傳感器拾取到位移信號(hào)后，經(jīng)前置放大器放大后，位移信號(hào)由檢測(cè)裝置的主機(jī)采集、處理并顯示。檢測(cè)人員可以依據(jù)顯示的信號(hào)波形判定出信號(hào)性質(zhì)，以此得出檢測(cè)結(jié)論。

選型說明

每種型號(hào)的顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀都包括 :控制器,振動(dòng)臺(tái),傳感器, 靈敏度測(cè)試單元,軟件, 示波器, 電纜, 耗材, 及相關(guān)文件.其型號(hào)選擇主要根據(jù)被測(cè)件的重量和外型尺寸而定,我們的標(biāo)準(zhǔn)配置采用的是M230振動(dòng)臺(tái)可測(cè)負(fù)載重量,全頻率范圍內(nèi)為400克,換能器臺(tái)面直徑為22mm~150mm,換能器因在其中心區(qū)域50%面積處?kù)`敏度zui高,故實(shí)際臺(tái)面選擇時(shí)換能器面積要略大于被測(cè)件zui大扁平面面積.

設(shè)備用途

用于電子元器件封裝后,對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來(lái)測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性。

適用范圍

用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒.

PIND技術(shù)參數(shù)

振動(dòng)規(guī)格：

頻率范圍：25 至250Hz, 正弦曲線

其他振動(dòng)模式：隨機(jī)極限，75 至400Hz平坦頻率

自動(dòng)階型頻率，40至250Hz

低頻率程序：zui大振幅保護(hù)隨頻率變化

頻率分辨率:1Hz

時(shí)間 :每個(gè)程序0.1至25.5秒

時(shí)間程序分辨率:0.1秒

振幅:0.1至25.50’G’峰值，4位數(shù)顯

振幅程序分辨率:0.1’G’

重復(fù)性:0.5’G’峰值，帶反饋控制

D.U.T.載荷:zui大350g(整個(gè)范圍)

zui大400g在60Hz

沖擊規(guī)格：

方法:沖擊臺(tái)反饋控制

自適應(yīng)D.U.T.載荷沖擊

振幅:100至2500’G’可編程

程序分辨率:10’G’

重復(fù)性:50’G’內(nèi)

脈沖寬度:<100微秒在50%振幅下

典型的是150-200微秒在10%振幅下

沖擊延遲:沖擊脈沖下降沿時(shí)間，從25至250微秒

D.U.T.載荷:振幅隨負(fù)載輕微下降

zui大能力500克在1000g振幅下

 (可能需要改變程序值來(lái)加大載荷)

zui大載荷規(guī)格：

振動(dòng)臺(tái)極限:800克

振動(dòng)極限:400克W/傳感器

沖擊極限:500克（可能需要增加程序值） 

電氣規(guī)格：

電源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz可選

功耗:zui大300瓦

額定功率放大:zui大動(dòng)態(tài)加載100w RMS