X射線照射樣品，經(jīng)過鍍層界面，射線返回的信號(hào)發(fā)生突變，根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難（信號(hào)分不開）。測(cè)試鍍層厚度要考慮鍍層材質(zhì)和鍍層密度等因素，如果各因素都不確定是無法分析的！

X-射線儀器的測(cè)量原理

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

韓國先鋒X射線金屬鍍層測(cè)厚儀(X-RAY鍍層測(cè)厚儀,X-RAY膜厚儀,韓國XRF-2000測(cè)厚儀)

產(chǎn)品簡介

韓國Micro Pioneer XRF-2000測(cè)厚儀是一款快速、無損、準(zhǔn)確檢測(cè)鍍層厚度儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的鍍層厚度檢測(cè)，可以檢測(cè)如鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等，zui多一次可測(cè)五層。

應(yīng)用領(lǐng)域

X光電鍍層測(cè)厚儀主要是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于電子電器廠、精密五金公司、電鍍加工企業(yè)、以及電鍍產(chǎn)品來料檢測(cè)等。

韓國先鋒X-RAY膜厚儀器功能

全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.03－35um

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間：10－30秒
 

精度控制：
     

*層：±5%以內(nèi)
     

第二層：±8%以內(nèi)
     

第三層：±12%以內(nèi)

XRF2000鍍層測(cè)厚儀,提供金屬鍍層厚度的測(cè)量，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，可測(cè)元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
綜合性能:鍍層測(cè)厚  定性分析   鍍液分析 統(tǒng)計(jì)功能

韓國XRF-2000H型鍍層測(cè)厚儀，測(cè)量樣品高度10cm內(nèi)

韓國XRF-2000L型鍍層測(cè)厚儀，測(cè)量樣品高度3cm內(nèi)

長寬均為55cm內(nèi)