X射線銅上鍍銀測厚儀

韓國先鋒XRF-2000系列

X射線測厚儀

產(chǎn)品介紹

X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用于材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。  

XRF-2000 系列：  
 

1. H型: 密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。  
2. L型:  密閉式樣品室，方便測量 樣品較小，高度約30mm以下。  
3. PCB型:  開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下

應(yīng)用 : 

檢測電子電鍍,PCB板,五金電鍍層厚度

測量范圍根據(jù)不同鍍層0.04-35um

精度控制：

表層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)

測量鍍金、鍍銀,鍍銅,鍍鎳,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,鍍鈀等

其可偵測元素的范圍： Ti(22)~U(92 )

X-RAY膜厚儀

原產(chǎn)地：韓國

品牌：Micropioneer微先鋒

貨號(hào)：XRF-2020

應(yīng)用：電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度

可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

XRF-2020三款機(jī)型均為全自動(dòng)臺(tái)面，自動(dòng)雷射對焦。

韓國MicroPioneerXRF-2020測試范圍   

鍍金: 0.03-6um

鍍鈀: 0.03-6um

鍍鎳: 0.5-30um

鍍錫: 0.3-50um

鍍銀: 0.1-50um

鍍鉻: 0.5-30um

鍍鋅: 0.5-30um

鍍鋅鎳合金： 0.5-30um

Micro PioneerXRF-2020測厚儀?精度

表層：±5%以內(nèi)

第二層：±8%以內(nèi)

第三層：±15%以內(nèi)

韓國MicroPioneer

微先鋒XRF-2020X-RAY膜厚儀?

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等，不限底材。

如單鍍層銅上鍍銀，銅上鍍鎳，銅上鍍鋅，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等

雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳，銅上鍍鎳鍍銀等，不限底材

多鍍層如：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等，不限底材

合金鍍層如：鐵上鍍鋅鎳等。不限底材

韓國MicroPioneer金屬鍍層測厚儀

標(biāo)牌：Micro Pioneer  微先鋒

貨號(hào)：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款

XRF-2020L型：測量樣品長寬55cm,高3cm

XRF-2020H型 測量樣品長寬55cm,高12cm

X射線銅上鍍銀測厚儀檢測范圍0.1-50um