金東霖—膜厚測試儀在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。高分辨硅-PIN-探測器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.
適合于小的鍍層測量，如端子，連接器，細小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛(wèi)浴，等行業(yè)．也有杰出的表現(xiàn)．可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層.

金東霖—膜厚測試儀儀器優(yōu)勢有：
★ 符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度 
★ 符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層 
★ 至多同時分析25種元素 
★ 經(jīng)實踐驗證、堅固、耐用的設計，可在絕大多數(shù)嚴苛的工業(yè)條件下使用。
★ 空間占用小，節(jié)約寶貴的工作臺空間，也可近產(chǎn)線放置。
★ 計算機提供USB和以太網(wǎng)接口用于連接打印機、光驅和網(wǎng)絡。