產(chǎn)品簡介

MML公司的納米力學(xué)性能測試系統(tǒng)NanoTest™ Vantage可以提供新型材料和特種材料開發(fā)和優(yōu)化的大量信息。是世界上功能強大的納米力學(xué)測試系統(tǒng)。它可以為用戶提供高精度的納米壓痕測試，同時提供相關(guān)的全面綜合測試：如納米劃痕和磨損測試、納米沖擊和疲勞測試、以及在高溫、液體環(huán)境中的測試。這些納米水平上的測試可以為我們提供材料表面局部的定量信息，數(shù)據(jù)可靠、測試省時。這些因數(shù)使得NanoTest™ Vantage在世界范圍內(nèi)成為大學(xué)、工業(yè)實驗室和標(biāo)準(zhǔn)機構(gòu)中很多表征和優(yōu)化項目的關(guān)鍵設(shè)備。

產(chǎn)品優(yōu)勢

技術(shù)多樣性無納米壓痕，納米劃痕，納米沖擊， 納米微震動磨損，納米磨損

高精度的多種載荷納米（至500mN）和微米（至30N）

市場的環(huán)境兼容能力引高溫（至850°C）、低溫（至-20° C）、液體和濕度環(huán)境

真正測量多真樣性 動態(tài)、靜態(tài)、電氣和多種成像模式

技術(shù)指標(biāo)

1、加載框架

    花崗巖復(fù)合材料設(shè)計用于計量應(yīng)用

2、加載應(yīng)用 電磁

   標(biāo)準(zhǔn)頭載荷 500 mN

   位移傳感器 線性電容

   負(fù)載分辨率 3 nN

   位移分辨率 0.002 nm

   重復(fù)定位精度 < 0.4 µm

   可測試區(qū)域 50 mm x 100 mm

   樣品處理 手動控制并點擊顯微鏡圖像

   熱漂移<0.005 nm/s

   接觸力<1 µN

   顯微鏡– 4個物鏡 x5, x10, x20 和 x40

   屏幕放大率 x410, x825, x1650, x3300

   隔振 負(fù)K，機械被動

   壓頭交換時間<1 min

   符合標(biāo)準(zhǔn)符合ISO 14577和ASTM 2546

3、劃痕模塊

    摩擦力 >250 mN

    摩擦載荷分辨率 10 µm

    劃痕距離 > 10 mm

    劃痕速度 100 nm/s 至 0.1 mm/s

4、沖擊模塊

    加速距離高達20 µm

    接觸應(yīng)變率高達10⁴ s^-1

    微動磨損模塊

    軌道長度 ≤20 µm

    頻率 ≤20 Hz

    磨損次數(shù) >10

5、SPM納米定位平臺

    XY掃描范圍 100 µm x 100 µm

    Z掃描范圍 20 μm

    定位精度 ≤2 nm

    閉環(huán)線性 99.97%

6、AFM

   XY掃描范圍 110 µm x 110 µm

   Z范圍 22 µm

7、高溫選項

   溫度 850 °C

   主動，獨立的樣品和壓頭加熱 是

   壓頭材料 金剛石，氮化硼，藍寶石

8、高負(fù)載頭

    載荷 30 N

    摩擦載荷分辨率 300 μN

應(yīng)用范圍

航空航天、汽車工業(yè)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、MEMS、高分子、薄膜和涂層，以及太陽能/燃料電池等。