鍍層膜厚儀_金東霖對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
傳統(tǒng)的楔切法，光截法，電解法，都是有損檢測。而X射線它采用非接觸式穿透測量法，既不會傷害材料，更不會受板型、現(xiàn)場條件、潔凈度等因素的影響。并且測量穩(wěn)定、準確還可以對大部分磁性或非磁性材料進行測量。 

鍍層膜厚儀_金東霖應用范圍
  *  測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從17(Cl)到92(U);
  *  5 層 (4 鍍層 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
  *  組成成分分析時可同時測定24種元素;
  *  鍍液中元素含量分析;
  *  元素光譜定性分析;
  *  基材分析;
生產商及儀器型號：
制造商：美國BOWMAN公司
原產地：美國
型  號：BA 100