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      TF200光學(xué)膜厚儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地廣州市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2019/4/5 17:16:16
      • 訪問次數(shù)598
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      廣州貝拓科學(xué)科技有限公司(原廣州貝拓儀器設(shè)備有限公司)是一家致力于向高科技企業(yè)、科研機(jī)構(gòu)及高校提供*實(shí)驗(yàn)分析儀器、設(shè)備的供應(yīng)商。我們不僅僅提供產(chǎn)品,我們還可以幫助客戶在檢測(cè)、分析和生產(chǎn)過程當(dāng)中得到*、可靠的技術(shù)服務(wù)和解決方案。

          從成立的那一天起,我們就把“Touch the future”作為公司*發(fā)展的核心理念。我們的客戶是各自行業(yè)的技術(shù)*者;我們代理的品牌是享譽(yù)的品牌,產(chǎn)品的質(zhì)量和技術(shù)性能早已贏得業(yè)界和用戶的*好評(píng)和信賴,部分產(chǎn)品更是在其領(lǐng)域成為技術(shù)的,如: betop貝拓科學(xué)自主產(chǎn)品接觸角測(cè)量儀、光學(xué)膜厚儀;HITACHI日立熱分儀、紫外可見光、差示掃描量熱儀;中國臺(tái)灣OTO光纖光譜儀;德國WITec的拉曼光譜儀、近場光學(xué)(SNOM);Anasys的納米紅外光譜儀;Andor的CCD、光譜儀;FEI掃描電子顯微鏡;Bourevestnik的XRF、XRD;美國PROTO XRD;PHI的XPS、AES;XENOX的X-射線小角散射儀;OXFORD的低溫恒溫器、臺(tái)式核磁、AFM;AMETEK旗下輸力強(qiáng)(Solartron)和普林斯頓的電化學(xué)工作站;LEICA 顯微鏡系統(tǒng);顯微鏡和電鏡前處理設(shè)備等等。

          我們的優(yōu)勢(shì)和專注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面,其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。

          材料分析領(lǐng)域代理品牌:

          OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺(tái)灣超微光學(xué))、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米

          同時(shí),我們也關(guān)注生命與健康領(lǐng)域,提供生化、合成實(shí)驗(yàn)室需要的儀器,如:單細(xì)胞分析儀、臺(tái)式NMR,冷凍干燥機(jī)、高速離心機(jī)、旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀、肉類快速分析儀、凝膠照膠機(jī)、機(jī)械泵等。

          生化分析領(lǐng)域代理品牌:

         Witec、OTO、Thermo Fisher、ATS、OXFORD、MPW、Steroglass、Chipron、PIE、Edward等。

      元素含量分析; 微區(qū)形貌表面分析; 材料物性表征; 電化學(xué)測(cè)試;
      TF200光學(xué)膜厚儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜,還可以測(cè)量n和k值。
      TF200光學(xué)膜厚儀 產(chǎn)品信息

      TF200光學(xué)膜厚儀 利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜,還可以測(cè)量n和k值。

      產(chǎn)品特點(diǎn)

      快速、準(zhǔn)確、無損、靈活、易用、性價(jià)比高

      應(yīng)用領(lǐng)域

      半導(dǎo)體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

      LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

      LED (SiO2、光刻膠ITO等)

      觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測(cè)試等)

      汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)

      醫(yī)學(xué)(聚對(duì)二甲苯涂層球囊/*壁厚藥膜等)

      TF200光學(xué)膜厚儀 技術(shù)參數(shù)

      型號(hào)

      TF200-VIS

      TF200-EXR

      TF200-DUV

      TF200-XNIR

      波長范圍

      380-1050nm

      380-1700nm

      190-1100nm

      900-1700nm

      厚度范圍

      50nm-40um

      50nm-300um

      1nm-30um

      10um-3mm

      準(zhǔn)確度1

      2nm

      2nm

      1nm

      10nm

      精度

      0.2nm

      0.2nm

      0.2nm

      3nm

      入射角

      90℃

      90℃

      90℃

      90℃

      樣品材料

      透明或半透明

      透明或半透明

      透明或半透明

      透明或半透明

      測(cè)量模式

      反射/透射

      反射/透射

      反射/透射

      反射/透射

      光斑尺寸2

      2mm

      2mm

      2mm

      2mm

      是否能在線

      掃描選擇

      XY可選

      XY可選

      XY可選

      XY可選

      注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

             2.可選微光斑附件。

      關(guān)鍵詞:觸摸屏
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