全角度光譜測(cè)量臺(tái)
可以搭配光譜儀、光源及其他測(cè)量附件,可以對(duì)材料進(jìn)行不同角度入射和接收的光譜測(cè)量,適用于各種表面平整的樣品光譜測(cè)量。采用電控獨(dú)立雙軸設(shè)計(jì),高精度步進(jìn)電機(jī)控制發(fā)射端和接收端的角度,角度分辨率0.05°。光譜范圍220-2500nm(可選擇不同配置),電腦軟件選擇發(fā)射端和接收端的角度,實(shí)現(xiàn)快速的光譜測(cè)量,能夠滿足透射/反射/散射/熒光/輻射等多種模式的全角度光譜測(cè)量應(yīng)用的需求。
入射端帶有一個(gè)旋轉(zhuǎn)偏振片架和一個(gè)濾波片架,可以放置一個(gè)偏振片和濾波片。接收端帶有一個(gè)濾波片架,可以放置一個(gè)濾波片、偏振片或者波片。各種波長(zhǎng)的范圍的偏振片、濾波片和波片可供選擇。
全角度光譜測(cè)量臺(tái) 產(chǎn)品特點(diǎn):
全角度測(cè)量:發(fā)射端角度范圍0°至180°,接收端角度范圍0°至360°,可以實(shí)現(xiàn)反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測(cè)量。
精確角度控制:高精度電機(jī),角度精度及重復(fù)性能優(yōu)異。
多光譜測(cè)量模式:可以實(shí)現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測(cè)量。
可編程測(cè)量模式:可以通過編程,來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)多角度光譜測(cè)量。
自由測(cè)量模式:可以任意控制樣品臺(tái)的入射角、接收角,實(shí)現(xiàn)光譜測(cè)量。
可選配件多樣:根據(jù)客戶的不同測(cè)量應(yīng)用,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的測(cè)量應(yīng)用。
多維調(diào)節(jié)樣品臺(tái):樣品臺(tái)由高精度三維位移臺(tái)和二維傾斜臺(tái)組成,可實(shí)現(xiàn)樣品的五維正交調(diào)節(jié)。
產(chǎn)品應(yīng)用:
LED光源等
材料鍍膜
光子晶體器件
液晶顯示
傳感器器件制備
角度材料相關(guān)分析
納米光學(xué)材料
技術(shù)參數(shù):
參數(shù)指標(biāo) | ||
參數(shù)/型號(hào) | RTM-VA | RTM-VAS |
光譜范圍 | 360-2500nm | 360-2500nm |
光源 | 含鎢燈光源 | 含鎢燈光源和積分球 |
光斑大小 | 小3mm | 小5mm |
入射角范圍 | 0-180° | 0-180° |
接收角范圍 | 0-360° | 0-180° |
角度分辨率 | 0.05° | |
測(cè)量對(duì)象 | 平面樣品、發(fā)光樣品 | 鏡面樣品、曲面樣品 |
應(yīng)用 | 反射、透射、散射、熒光測(cè)量 | 反射率、透過率測(cè)量 |
可選配件
紫外擴(kuò)展模塊 | |
RTM-UV | 250-2500NM |
光譜儀 | |
USB2000+ | 350-1000nm |
QEPRO | 350-1100nm |
NIRQUEST | 900-2500nm |
光源 | |
DH-2000 | 220-2500nm |
偏振片 | |
PLine-UV |
|
PLine-VIS-A | 400-700nm |
PLine-VIS-B | 600-1100nm |
PLine-NIR-A | 1050-1700nm |