Nexsa系列 X射線光電子能譜儀
Nexsa 能譜儀具有靈活性,可zui大限度地發(fā)揮材料潛能。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時,以多重整合技術(shù)選項(xiàng)的形式提供靈活性,從而實(shí)現(xiàn)真正意義上的相關(guān)性數(shù)據(jù)分析和高通量。
標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能:
絕緣體分析
高性能光譜
深度剖析
多技術(shù)整合
雙模式離子源,使深度剖析功能得到擴(kuò)展
用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告的 Avantage 軟件
小光斑分析
可選的升級:可將任何全自動化集成技術(shù)添加到您的分析中。觸動按鈕即可運(yùn)行。
ISS:在離子散射光譜技術(shù)中,一束離子可被某物體表面散射
UPS:紫外光電子能譜是指對吸收了紫外光子的分子所發(fā)射的光電子動能譜進(jìn)行測量,以確定化合價區(qū)域中的分子軌道能量
Nexsa系列 X射線光電子能譜儀 拉曼:能譜技術(shù)在化學(xué)領(lǐng)域被用于提供結(jié)構(gòu)指紋
REELS:反射電子能量損失譜
借助 SnapMap 的光學(xué)視圖,聚焦于樣品特征。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域,同時生成*聚焦的 XPS 圖像,以進(jìn)一步定義您的實(shí)驗(yàn)。
X 射線照射樣品上的一個小區(qū)域。
收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其聚焦于分析儀
隨著鏡臺的移動,不斷采集能譜
在整個數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測鏡臺位置,這些位置用來生成 SnapMap