AMD10氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀

性能指標：

1.離子源

離子化模式：EI

離子化電壓：5 eV ～ 100 eV

離子源溫度：150–350 °C
燈絲：雙燈絲結(jié)構(gòu)

惰性等溫陶瓷離子源

維護簡單，清洗離子源，只需從真空腔體前抽出，而且離子源上接線數(shù)量少（3根）?？芍苯痈鼡Q燈絲，無需拆解離子源。

2.質(zhì)譜

質(zhì)量分析器：S型預過濾器*消除光子和中子，并且引導離子無損失地進入四極桿。*設(shè)計的高精度四極桿質(zhì)量過濾器根據(jù)它們的質(zhì)／荷比有效地分離離子。

m/z范圍：2-1200 amu

靈敏度：

儀器檢出限（IDL）:

質(zhì)量軸穩(wěn)定性：優(yōu)于0.10amu /48h

大掃描速度：可達20,000 amu/s

傳輸線溫度：溫度350℃

射頻電源:1.0MHz

電路板模塊的互換性。

3.檢測器

擁有在低電壓下工作的高能打拿極和長壽命電子倍增器的三軸檢測器。

線性動態(tài)范圍 >5*10^6

4.真空系統(tǒng)

分子渦輪泵：渦輪分子泵，抽速85L/s、300L/s可選

前級機械泵：Edwards機械泵,抽速1.5 m3 /h

5.數(shù)據(jù)系統(tǒng)

軟件：PANNA Maestro操作分析軟件，中/英文可選。

模式：SCAN、SIM。

應(yīng)用調(diào)諧：一鍵式自動調(diào)諧（BFB、DFTPP）。

譜庫：NIST, Wiley/NIST, Maurer/Pfleger/Weber, Rosner。

解卷積：復雜基質(zhì)中的痕量化合物的定性與定量的專有集成解卷積算法。

數(shù)據(jù)資源管理工具：一組測量數(shù)據(jù)快速瀏覽，手動提取譜圖和離子色譜圖。

測量數(shù)據(jù)批量處理：多個實驗數(shù)據(jù)的批處理，用戶自定義批處理。

自動積分工具-解卷積工具：從質(zhì)譜圖中提取化合物譜的列表。

導出工具：數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為AMDIS可讀的格式（“全掃描”模式的質(zhì)譜圖）。

iDwell 時間工具：在SIM模式下自動分配駐留時間, 在SIM離子測量速率和靈敏度之間提供平衡點, 而不需考慮每個時間段的離子質(zhì)量數(shù)量。

SIM庫：專門選用 SIM 離子質(zhì)量的內(nèi)置庫, 具有參考強度和化學化合物 IDs (CAS 號)。

該庫可由用戶編輯。對于給定的目標化合物, 可以通過幾下鼠標點擊從庫中搜索數(shù)據(jù)。

智能檢測測量方法：一些參數(shù)檢查有助于在創(chuàng)建方法的過程中，防止用戶設(shè)置不正確或不兼容的參數(shù)。

SIM向?qū)В阂粋€強大的工具，從標準樣品“全掃描”模式下測量的數(shù)據(jù)一步一步自動建立SIM方法。

6.安裝要求

7.AMD10氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀體積和重量