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**的大面積高厚度硅鋰Si(Li)檢測器
*全數(shù)字化譜分析器 32bit 4096通道
*高穩(wěn)定性:RSD<0.3% 8小時
*檢測元素:F~U
賽黙飛世爾科技 ThermoFisher(美國熱電)能量色散X-射線熒光光譜儀(ED-XRF)
樣品室:樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)
增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm
單位盤 樣品可大至樣品室大小
10位盤(選購件) 帶自轉(zhuǎn)機構(gòu),樣品可大至47mm
20位盤(選購件) 樣品可大至31mm
自動和手動盤 為特種樣品的樣品盤,選購件
環(huán)境 空氣、真空(選購件)和充氦(選購件)
激發(fā)(核心元件):
X-光管:超高通量,端窗,RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻,其它靶可選
X-光發(fā)生器 4-50KV,1KV間隔。O.02-2.OmA,0.02mA 間隔
濾光片 7種濾光片加1空位,自動選擇
準直器(選購件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五種
X射線檢測配置器(核心元件)
類型:Si(Li)硅鋰
晶體面積:
Si(Li)面積15mm?,分辨率<155 eV
Si(Li)LN Si(Li)面積30mm?,分辨率<149 eV
晶體厚度: 3.5mm
檢測元素:F~U
制冷方式:電致冷/液氮致冷
穩(wěn)定性:RSD<0.3% 8小時
靈敏度:Fe, Pb <3pmm(油)
再現(xiàn)性:RSD<0.3%/1x10負6次方計數(shù)
譜處理器(核心元件)
處理器類型:全數(shù)字話 32bit 3 DSP
譜通道:2048 20eV/通道
修正時間:1~40ms, 用戶選擇
計數(shù)率:>100,000cps (live)
能量范圍:400~4096eV
死時間影響:<3.0%
重疊校正:<0.3%
能量校正:軟件自動
尺寸和重量
外形尺寸寬71.88cm,高41.15cm,深59.18cm
重量 90.7kg
使用要求
電源 100、115或230VAC,50或60hz,功率1000W,真空泵需2000W
遙控診斷和遙控監(jiān)測需要通過因特網(wǎng)連線
環(huán)境要求
溫度 O~32℃
濕度 20~80%RH(無冷凝水)
超大Si(Li) 硅鋰離晶體,具有*的痕量分析的靈敏度,打破lng的檢測限壁壘
全數(shù)字脈沖處理器技術,死時間達60%, 以及優(yōu)異的峰背比
高級FP無標樣分析軟件,進行無標樣分析,減少對標樣的依賴性
高靈敏電制冷Si(Li) 探測器技術, 儀器免維護和*運行
超大樣品室,可容納300mm400mm的樣品
全自動校準,自動監(jiān)測,自動報警系統(tǒng),*計算機控制
鍍層和薄膜測量技術, 具有無標樣分析測厚技術
數(shù)據(jù)采集
數(shù)字脈沖處理器 全部參數(shù)程序控制,自動能量校正
多道脈沖分析器 32位,4096道多道分析器
數(shù)據(jù)接口 計算機以太網(wǎng)接口
分析處理器和 WinTrace
計算機/打印機 主流計算機和彩色打印機
顯示 X-射線能譜,重疊譜比較,峰鑒定標記,分析參數(shù)
輸出 監(jiān)視器,圖形打印機和調(diào)制解調(diào)器
自動化 樣品室環(huán)境,X一射線源輸出,濾光片選擇,多次激發(fā)條件, 和樣品選擇
譜處理 自動元素鑒定,數(shù)字濾波本底扣除,zui小二乘法經(jīng)驗峰去卷積, 總峰強度,和凈峰強度
分析技術 經(jīng)驗系數(shù)法和基本參數(shù)法,歸一化,校正曲線圖顯示
操作系統(tǒng) 微軟WindowsXP及更新的版本
參考方法
ASTM方法
D5839-96(2001) X-熒光能譜法測定危險廢燃料中痕量元素的標準測試方法
D6052.97 X-熒光能譜法對液體危險廢料中元素分析的標準測試方法 。
* 用于美國H.R.4040(HR4040)法規(guī)檢測(2009年8月實施)
【2008年8月14日,美議會第4040號提案(H.R.4040)生效,此法案對美國消費品委員會(CPSC)進行了重新*,大大加強了CPSC在保證美國消費品安全中的作用,尤其是對兒童玩具及護理產(chǎn)品的要求達到了*的高度。H.R.4040有幾項重大變化:檢測范圍擴大至玩具上任何可觸及材料;總鉛限呈逐級遞減,由600ppm,2009年8月14日起降至300ppm, 2011年8月14日降至100ppm。而兒童產(chǎn)品中油漆等表面涂層材料的要求更為嚴格,其總鉛*將在2009年8月14日后銳減至 90ppm。
H.R.4040不僅使玩具業(yè)會面臨更為嚴峻的法律環(huán)境,同時對玩具實驗室也提出了更高的檢測要求。標準的提高對檢測儀器的靈敏度、精度、連續(xù)穩(wěn)定性也提出了更高的要求?!?nbsp;
連續(xù)穩(wěn)定性也提出了更高的要求?!?br />* ROHS檢測、RoHS & WEEE 指令分析 、HR4040標準檢測應對
* 氣溶膠顆粒濾膜
* 刑偵以及痕量分析
* 營養(yǎng)添加劑
* 磁性磁性介質(zhì)和半導體
高性能,操作簡便WinTrace軟件
直觀
功能強大
安全
操作靈活,方便用戶